X-Ray測(cè)厚儀_天瑞儀器 介紹

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款X-RAY測(cè)厚儀，可全自動(dòng)軟件操作,，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),，以及移動(dòng)平臺(tái),。是一款功能強(qiáng)大的儀器,，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,。

 X-Ray測(cè)厚儀_天瑞儀器 標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔,。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng),。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測(cè)器,。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源,。
X光管,。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時(shí)可以分析30種以上元素,，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

應(yīng)用領(lǐng)域

，鉑,，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定,。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行,，飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu),；電鍍行業(yè)。