金屬膜厚測試儀THICK800A,天瑞儀器 

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動,，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。 
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

金屬膜厚測試儀THICK800A,天瑞儀器 技術指標

型號：Thick 800A 
產(chǎn)品名稱：金屬膜厚測試儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。 
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層,。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型,。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃30℃,。

產(chǎn)品功能：
1. Ux-720新一代國產(chǎn)鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器）,，測量精度和測量結果業(yè)界*,。
2. 采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產(chǎn)過程中的質量控制,，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
3. Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節(jié)設計在殼體外部,，觀察移動位置簡單方便,。
4. X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,，無損,、快速和更的特點，對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障,。
5. Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯新技術FlexFp -Multi,，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,，測試結果經(jīng)得起科學驗證,。
6. 樣品移動設計為樣品腔外部調節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷,，有助于提升效率,。
設計更科學，軟硬件配合,，機電聯(lián)動,，輻射安全高于國標GBZ115-2002要求。
7. 軟件操作具有操作人員分級管理權限,，一般操作員,、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄同時自動添加測試人的登錄名稱,。
產(chǎn)品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層,，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷   
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數(shù)：0-50Kv,，50W,，側窗類；

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg