膜厚測試儀 Thick800A,天瑞儀器  

技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。

同時(shí)可以分析30種以上元素,，五層鍍層。

分析含量一般為ppm到99.9% ,。

鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應(yīng)范圍為15℃30℃,。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

 膜厚測試儀 Thick800A,天瑞儀器  重量：90kg

廠家介紹

X熒光測厚儀生產(chǎn)生產(chǎn)廠家——江蘇天瑞儀器股份有限公司，新款Thick 8000X熒光測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型鍍層膜厚測試儀器,。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定； ,、鉑,、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。金屬鍍層分析儀俗稱X射線熒光測厚儀,、鍍層測厚儀,、膜厚儀、XRF鍍層測厚儀,、膜厚測試儀,、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于精密測量金屬電鍍層的厚度,。功能：精密測量金屬電鍍層的厚度,；應(yīng)用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。

測量范圍從22(Ti)到92(U);5 層 (4 鍍層 + 基材) / 15 元素 / 共存元素校正;元素光譜定性分析;測試方法符合 ISO 3497, ASTM B568 和DIN 50987