X熒光鍍層測(cè)厚儀器_天瑞儀器 具有以下優(yōu)點(diǎn)：
快速：1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度,，并達(dá)到測(cè)量精度要求,。
方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口上的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV,，測(cè)試精度更高,。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮,，操作使用更加方便,，并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無(wú)損：測(cè)試前后,，樣品無(wú)任何形式的變化,。
直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量,。
測(cè)試范圍廣：X熒光光譜儀,，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān),。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U,。
可靠性高：由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度,、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高,。所以,，其測(cè)量的可靠性更高,。

X熒光鍍層測(cè)厚儀器_天瑞儀器 滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便,、功能強(qiáng)大,，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù),，并就有多種的分析方法,，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要,。
性價(jià)比高：相比化學(xué)分析類儀器,，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受,。
對(duì)人員技術(shù)要求較低,，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,。
軟件圖片：
 
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層,。
分析檢出限可達(dá)2ppm,，薄可測(cè)試0.005μm,。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型,。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型,。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
配置
Si-Pin探測(cè)器,。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源,。
X光管,。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用：
，鉑,，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定,。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè)；
銀行,，飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu),；
電鍍行業(yè)。