天瑞x熒光測厚儀器具有以下優(yōu)點：
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求,。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口上的電制冷半導體探測器,，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高,。并且不用液氮制冷,，不用定期補充液氮,，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品更低,。
無損：測試前后,，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖,，可直觀顯示元素含量,。

天瑞x熒光測厚儀器測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法,，其分析與樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān),。對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾,，儀器自身分析精度,、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以,，其測量的可靠性更高,。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便,、功能強大,，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù),，并就有多種的分析方法,，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要,。
性價比高：相比化學分析類儀器,，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受,。
對人員技術(shù)要求較低,，操作簡單方便,并且維護簡單方便，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,。
軟件圖片：
 
技術(shù)指標
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層,。
分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm,。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型,。
多變量非線性回收程序
多次測量重復(fù)性可達0.1%
工作穩(wěn)定性可達0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃30℃,。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
配置
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路,。
高低壓電源,。
X光管,。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
應(yīng)用：
,，鉑,，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業(yè),；
銀行，飾銷售和檢測機構(gòu),；
電鍍行業(yè)。