天瑞儀器，X熒光鍍層測厚儀 

 技術參數(shù)

重量：90 kg
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
工作穩(wěn)定性高
溫度適應范圍為15℃30℃
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層 
一次可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm

 天瑞儀器,，X熒光鍍層測厚儀 性能優(yōu)勢

可靠性高
由于測試過程無人為因素干擾,，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高,。所以,，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求
：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,，操作方便,、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),，設定儀器參數(shù),，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣,，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要,。
快速
1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求,。
無損
測試前后,，樣品無任何形式的變化。
直觀
實時譜圖,，可直觀顯示產(chǎn)品測試點
簡易
對人員技術要求較低,，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
性價比高

相比其他類類儀器,，x熒光鍍層測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。