您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當前位置:廣東天瑞儀器有限公司>>鍍層測厚儀器>>鍍層測厚儀>> 鍍銅測厚儀_天瑞儀器
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌SKYRAY/天瑞儀器
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地蘇州市
更新時間:2025-01-16 18:12:37瀏覽次數(shù):1246次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)鍍銅測厚儀_天瑞儀器
儀器采用下照式結構,,適合平面樣品的檢測,配置的軟件界面簡潔,,測試樣品用時40S,,售后服務可靠及時。
鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法:1 光學顯微鏡法,。適用標準為:GB/T6462-20052
2 X-ray法(X射線法),。適用標準為:GB/T16921-2005
3 庫侖法,此法一般為仲裁方法,。適用標準為:GB/T4955-2005
鍍銅測厚儀_天瑞儀器廠家優(yōu)勢
天瑞公司有完善的質(zhì)量管理體系,,從進口核心零部件的檢測開始,到儀器的組裝,,數(shù)據(jù)的標定及考核,,均嚴格把關,能夠很好的控制產(chǎn)品的質(zhì)量,。公司嚴格按ISO9001質(zhì)量體系的要求,,進行產(chǎn)品質(zhì)量的管理,每道工序進行嚴格的檢驗,,絕不允許不合格的流到下到工序,;不合格的產(chǎn)品不出廠,,堅決做到“三不”和“三不放過”,確保產(chǎn)品質(zhì)量可靠,,用戶使用放心,。
測量標準
1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應用領域
鍍層厚度分析;RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測,;
合金成分分析,;
測試步驟
1.每天開機預熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”:用戶使用“Administrator”,密碼:skyray
2.進入測試軟件后,,選擇“測試條件”“確定”,,即測試條件確定(儀器已設置好)
3.選擇“工作曲線”如待測樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe,;其他依次類推
4.放入“Ag片”對儀器進行初始化初始化完成后,,(峰通道為1105,計數(shù)率達到一定的數(shù),,如300以上),。
5.待測樣品測試放入待測的樣品,,通過攝像頭畫面觀察當前放入的樣品的表面情況,,以及儀器的X射線的聚焦點??梢酝ㄟ^軟件提供的十字坐標(也稱十字光標)來定位該聚焦點,,將樣品放在聚焦點位置。“開始”,,輸入樣品名稱后“確定”,。
6.測試完成后即可保持報告,報告的位置可以在桌面的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到,。
注意:測試鍍層樣品時,,必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試,。
技術參數(shù)
1 分析元素范圍:S-U
2 可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.02μm
4 多次測量重復性可達0.05μm
5 定位精度:0.5mm5 測量時間:30s-300s
6 計數(shù)率:1000-8000cps
7 儀器適合測試平面,。以單層Fe鍍Ni的標樣為例,分析的范圍是0.02—30um,,在這個范圍內(nèi),,才能檢測。0.5-10um的,,偏差是5%,,就是說真值是1um,用儀器測試的值是0.95-1.05um,。
性能優(yōu)勢
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片手動切換:不同樣品材質(zhì)用不同的準直器移動平臺:精細的手動移動平臺,,方便定位測試點高分辨率探測器:提高分析的性鍍銅測厚儀新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,,高達50W的功率實現(xiàn)更高的測試效率
硬件配置
1. 探測器
2. 高、低壓電源
3. X光管
4. MCA多道分析器
5. 高精密攝像頭
6. 移動平臺(自動)
7. 準直器
8. 標準樣品
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性,、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,,化工儀器網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風險,,建議您在購買產(chǎn)品前務必確認供應商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量,。