鍍層膜厚儀THICK800A 優(yōu)點介紹：
 1. 測量速度快2. 精度高精度,，可達到1-2%3. 穩(wěn)定性高4. 功能、數(shù)據(jù),、操作,、顯示全部是中文測量方法5,、覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測量法，稱重法,，X射線熒光法,，β射線反向散射法，電容法,、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣,，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。6,、X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴,，測量范圍較小,。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

 鍍層膜厚儀THICK800A 是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器,。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量,、電鍍液和鍍層含量的測定； ,、鉑,、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。
2,、性能優(yōu)勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統(tǒng)
的圖像識別 
輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,，自動切換
雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,，有效降低檢出限,，提高測試精度
全自動智能控制方式，一鍵式操作!
開機自動退出自檢,、復(fù)位 
開蓋自動退出樣品臺,，升起Z軸測試平臺,，方便放樣 
關(guān)蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接全景或局部景圖像選取測試點 
軟件界面測試按鈕,，自動完成測試并顯示測試結(jié)果
3,、技術(shù)指標
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
檢出限：可達2ppm,，薄可測試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達0.1%
穩(wěn)定性：可達0.1%
SDD探測器：分辨率低135eV
采用的微孔準直技術(shù),，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
準直器：0.3×0.05mm,、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%