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X熒光光譜儀分析原理

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     X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),,激發(fā)被測樣品,,產(chǎn)生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進(jìn)行檢測,。


技術(shù)原理

受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量,。然后,,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷,,同時(shí)發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,,根據(jù)莫斯萊定律,熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),,其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:
λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常數(shù),。

而根據(jù)量子理論,X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,,每個(gè)光具有的能量為:
E=hν=h C/λ
式中,,E為X射線光子的能量,單位為keV,;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速,。
因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類,,這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,,據(jù)此,,可以進(jìn)行元素定量分析。

主要用途

X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,,可以 測定元素含量,。
近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金,、地質(zhì)、有色,、建材,、商檢、環(huán)保,、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也較為廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,,可分析固體,、粉末、熔珠,、液體等樣品,,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快,、測量范圍寬,、干擾小的特點(diǎn)。

優(yōu)缺點(diǎn)


優(yōu)點(diǎn)

(a)分析速度快,。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān),,但一般都很短,10~300秒就可以測完樣品中的全部待測元素,。
(b)X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān),,而且跟固體、粉末,、液體及晶質(zhì),、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象,。特別是在超軟X射線范圍內(nèi),,這種效應(yīng)更為顯著,。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
(c)非破壞分析,。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變,,也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量,,結(jié)果重現(xiàn)性好,。
(d)X射線熒光分析是一種物理分析方法,所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,。
(e)分析精密度高,。含量測定已經(jīng)達(dá)到ppm級別。
(f)制樣簡單,,固體,、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析,。

缺點(diǎn)

(a) 定量分析需要標(biāo)樣,。
(b)對輕元素的靈敏度要低一些。
(c)容易受元素相互干擾和疊加峰影響,。

分類


X熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF),。
以X熒光的波粒二象性中波長特征為原理的稱為波長色散型,以能量特征為原理的稱為能量色散型,。


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