EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B體積小、穩(wěn)定性好,、分析快速,、運(yùn)行成本低、操作維護(hù)方便,、是控制產(chǎn)品質(zhì)量的理想選擇,。可測(cè)定鉛Pb,、汞Hg,、鎘Cd、鉻Cr,、溴Br等元素,。硅半導(dǎo)體探測(cè)器，通過(guò)智能激發(fā)和檢測(cè)設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)高靈敏度,，用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法,，適用于不同的應(yīng)用場(chǎng)合。

應(yīng)用領(lǐng)域

EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀EDX1800B應(yīng)用于RoHS檢測(cè)分析。

采用的是X射線熒光分析原理,，受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長(zhǎng)特性。探測(cè)系統(tǒng)測(cè)量這些放射出來(lái)的二次X射線的能量及數(shù)量,。然后,，儀器軟件將探測(cè)系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。

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融合經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法,、基本參數(shù)法（FP法）等分析方法,，測(cè)試數(shù)據(jù)的性能得到。

經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法：儀器依據(jù)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的測(cè)定,，確定影響系數(shù),。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求高，需和待測(cè)樣品類型相近,，校正模型簡(jiǎn)單,。

基本參數(shù)法（FP法）：儀器根據(jù)實(shí)際檢測(cè)物質(zhì)，通過(guò)對(duì)多種物理量建模計(jì)算確定參數(shù),。對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品要求不高,，計(jì)算較復(fù)雜，適合缺少對(duì)應(yīng)標(biāo)樣的物質(zhì)檢測(cè),。

 

進(jìn)口硬件

1	美國(guó)進(jìn)口Si-PIN探測(cè)器，高速脈沖高度分析系統(tǒng)
2	美國(guó)SPELLMAN高壓發(fā)生器
3	美國(guó)進(jìn)口前置放大器,，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
4	美國(guó)進(jìn)口主放大器,，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好
5	美國(guó)進(jìn)口AD轉(zhuǎn)換模塊，與美國(guó)進(jìn)口探測(cè)器兼容性好