溫度的測(cè)量方法大致可分為兩種：接觸法和非接觸法,。在接觸測(cè)溫法中，熱電偶和熱電阻溫度應(yīng)用最為廣泛,，該方法的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備和操作簡(jiǎn)單,，測(cè)得的是物體的真實(shí)溫度等，其缺點(diǎn)是動(dòng)態(tài)特性差,，由于要接觸被測(cè)物體,，所以對(duì)被測(cè)物體的溫度分布有影響，且不能應(yīng)用于甚高溫測(cè)量,。非接觸測(cè)溫法主要以輻射測(cè)溫法為主,。由于光譜發(fā)射率的影響,，輻射測(cè)溫法無法測(cè)量到物體的真實(shí)溫度，只是分別為亮度溫度,、顏色溫度,、輻射溫度等。若想知道被測(cè)目標(biāo)的真實(shí)溫度,，就需要對(duì)上述溫度進(jìn)行發(fā)射率修正,，以往所采用的方法主要有發(fā)射率修正法、逼近黑體法,、輔助源法,、偏振光法。
瞬態(tài)多光譜輻射光學(xué)測(cè)溫系統(tǒng)是以普朗克熱輻射理論為基礎(chǔ),，將待測(cè)光源的輻亮度與標(biāo)準(zhǔn)光源的輻亮度進(jìn)行比較,，從而測(cè)得待測(cè)光源溫度的一種光學(xué)儀器。是研究等離子體,、沖擊波物理,、爆轟物理和燃料燃燒過程、發(fā)動(dòng)機(jī)瞬態(tài)爆燃爆震過程的重要設(shè)備,。主要用于動(dòng)載荷下瞬態(tài)高溫測(cè)量(1000℃～6000℃),，如燃料爆轟沖擊波溫度、燃料燃燒溫度,、材料的沖擊溫度,、定容彈爆燃過程、卸載溫度等的測(cè)量,；也可用于其他瞬態(tài)超高溫度的測(cè)量,；也可測(cè)量高壓下材料的其它參數(shù)，如測(cè)量沖擊波或稀疏波到達(dá)物質(zhì)界面的時(shí)間,，以確定其沖擊波速度及高壓卸載聲速,；還可用于測(cè)量爆炸溫度場(chǎng)的溫度。
多光譜測(cè)溫技術(shù)是測(cè)量高溫物體的有效手段,而測(cè)溫儀器的標(biāo)定的重要性如同儀器制造本身,針對(duì)高溫區(qū)的測(cè)溫儀器精度更是依賴于準(zhǔn)確的標(biāo)定.基于多光譜測(cè)溫理論的分光式測(cè)溫系統(tǒng),能夠完成VNIR波段的光譜采集,以及CCD輔助對(duì)準(zhǔn)的功能,但由于自制接收系統(tǒng)的波長(zhǎng)選擇性,需要對(duì)其進(jìn)行標(biāo)定.通過高溫黑體爐提供標(biāo)定溫度,運(yùn)行測(cè)溫系統(tǒng)樣機(jī)以整度標(biāo)定的方法取得輻射強(qiáng)度曲線,結(jié)合普朗克理論溫度曲線得出系統(tǒng)響應(yīng)函數(shù),并在解算過程中將該響應(yīng)函數(shù)用于修正所測(cè)得的所有溫度點(diǎn)輻射曲線,擬合理論溫度曲線,使測(cè)量結(jié)果更準(zhǔn)確.
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