X射線熒光膜、土壤樣品杯膜,、mylar膜/聚丙烯膜,、日本理學(xué)/島津/斯派克,、EDX邁拉膜/XRF測(cè)試薄膜、美國(guó)Premier樣品膜,、X-ray Film  TF-475-3 

      品名：XRF樣品膜Sample Film

      型號(hào)：TF-475-3 

      品牌：美國(guó)Premier Lab (*）

      貨期：現(xiàn)貨

      起訂量：1盒以上,。

一、美國(guó)Premier XRF樣品膜：

美國(guó)Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領(lǐng)域,，以高質(zhì)量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽(yù),。

美國(guó)Premier X-ray樣品膜(X-ray Film）以其極低的（幾乎不含）雜質(zhì)和厚度均勻而嚴(yán)格生產(chǎn)，*的柔韌性和抗化學(xué)腐蝕性,，保證檢測(cè)結(jié)果的可靠性和重現(xiàn)性,，被廣泛應(yīng)用于XRF樣品制備、檢測(cè)過(guò)程,，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF,、ED-XRF）。

X-ray Film能用于固體,、液體,、粉末、顆粒,、土壤等樣品XRF檢測(cè),，適用于RoHS&WEEE檢測(cè)、油品成份分析,、金屬成份分析等,。

二、Premier 樣品膜特點(diǎn)：

   有卷狀和片狀,，多種規(guī)格,、尺寸、數(shù)量可供選擇,；

   柔韌性強(qiáng),、方便、耐用,；

   的X-ray射線穿透性,，適合各類XRF光譜儀；

   的抗化學(xué)腐蝕性能,，不溶于有機(jī)溶劑,，不污染待測(cè)樣品；

   （幾乎不含）痕量雜質(zhì),，特別適合于輕質(zhì)元素的*檢測(cè),。

三、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu,、牛津儀器Oxford,、斯派克Spectro,、布魯克Bruker、日本精工SII,、日本電子JEOL,、日本理學(xué)Rigaku、日本堀場(chǎng)Horiba,、熱電Thermo,、帕納科Panalytical、尼通Niton,、伊諾斯Innox-X,、天瑞Skyray、Jordan Valley,、ARL,、Asoma、Kevex,、Metorex,、Siemens、Spectrace,、Philips,、Fisons。

7.5μ Kapton膜,、美國(guó)Premier X-ray樣品膜

7.5μ Kapton膜,、美國(guó)Premier X-ray樣品膜 

四、XRF樣品膜目錄：

美國(guó)Premier X-ray樣品膜種類：

（1）,、Hostaphan膜,；

（2）、Kapton膜：聚酰亞胺膜,，卡普頓膜,；

（3）、Mylar膜：聚酯薄膜,，邁拉膜,，麥拉膜；

（4）,、Polypropylene膜：聚丙烯膜,。

目錄編號(hào)

CAT. NO     薄膜材料       厚度              長(zhǎng)度           數(shù)量          描述

TF-475-3     

Kapton膜  7.5μ(0.33mil)       76mm x 91.4m      1卷/盒    Kapton®Roll連續(xù)卷軸