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什么是接觸電阻測試以及為什么接觸電阻測試完成
什么是接觸電阻
專業(yè)生產(chǎn)接觸電阻測試儀，專業(yè)電測十五年,。接觸電阻是指當(dāng)觸點彼此接觸時（在器件閉合狀態(tài)下）,，由于表面狀況和其他原因?qū)е碌碾娏髯枇Α?/p>
•破碎機(jī)
•接觸
•繼電器
•開關(guān)
•連接器
•其他開關(guān)設(shè)備
接觸電阻測試也稱為Ductor測試,，測量電氣連接的電阻 - 端子，接頭,，連接器,，母線段或電纜連接等。這些可以是任何兩個導(dǎo)體之間的連接,，例如,，電纜連接或母線部分。用于執(zhí)行導(dǎo)體測試的儀器稱為歐姆表,，由于其功能是執(zhí)行導(dǎo)體測試,，因此歐姆表也稱為導(dǎo)體測試儀。
測試儀測試儀有多種型號可供選擇,，如HTHL-100A,，HTHL-100B和HTHL-100P。用于測量電氣測試的不同應(yīng)用中的電阻,。該測試儀由直流電流表和一些其他組件組成,。該測試測量微米級或毫歐級的電阻，主要用于驗證電氣連接是否正確,，并可檢測以下問題：
•連接松動
•螺栓連接處有足夠的張力
•侵蝕的接觸面
•受污染或腐蝕的接觸
術(shù)語接觸電阻是指對系統(tǒng)的總電阻的貢獻(xiàn),，其可歸因于電引線和連接的接觸界面，而不是固有電阻,，固有電阻是固有特性,，與測量方法無關(guān)。這種效應(yīng)通常由術(shù)語電接觸電阻或ECR描述,，并且可以在稱為電阻蠕變的過程中隨時間變化,，常見地減小。William Shockley介紹了注入電極可能下降的想法,，以解釋實驗結(jié)果與逐漸通道近似模型之間的差異,。除了術(shù)語ECR之外，還使用“界面電阻”,，“過渡電阻”或僅僅“校正項”,。術(shù)語“寄生電阻”已被用作更通用的術(shù)語，
為什么需要接觸電阻測試,？
需要定期檢查斷路器中的觸點,，以確保斷路器健康且功能正常。接觸不良或接觸不良會導(dǎo)致電弧放電,，失相,，甚至起火。
該測試對于承載大量電流的觸點（例如開關(guān)設(shè)備母線）尤為重要,，因為較高的接觸電阻會導(dǎo)致較低的載流量和較高的損耗。Ductor測試通常使用微/毫歐表或低歐姆表進(jìn)行。
接觸電阻的測量有助于識別觸點的微動腐蝕,，并且可以診斷和防止接觸腐蝕,。接觸電阻的增加會導(dǎo)致系統(tǒng)中的高壓降，并且需要進(jìn)行控制,。
在接觸電阻測試期間做了什么,？
對斷路器觸點進(jìn)行的兩種常見檢查是目視檢查和接觸電阻檢查。
1.目視檢查檢查包括檢查斷路器的觸點是否有由于電弧放電和磨損或變形觸點引起的任何點蝕痕跡,。
2.第二項檢查是接觸電阻測量,。這涉及通過觸點注入固定電流，通常約為100A,，200A和300A,，并測量其上的電壓降。該測試使用特殊的接觸電阻測量儀器完成,。然后,，使用歐姆定律計算電阻值。電阻值需要與制造商給出的值進(jìn)行比較,。該值還應(yīng)與之前的記錄進(jìn)行比較,。
這兩項測試都需要一起完成。由于存在接觸具有良好接觸電阻但仍處于損壞狀態(tài)的情況,。因此,，對于認(rèn)證健康的接觸，它需要具有良好的接觸電阻并且應(yīng)該清除視覺檢查測試,。
一般有兩種類型的導(dǎo)管測試儀：
1.串聯(lián)型歐姆表有4個電阻,，內(nèi)部電池電壓-E和輸出端子A和B.當(dāng)A和B端子與R1和R2電阻連接時，電池形成一個簡單的串聯(lián)電路,。
2.分流式歐姆表,，用于測量小電流電阻值。當(dāng)A和B端子閉合時,，針讀數(shù)為零,，因為電流僅通過電阻器RX流動。當(dāng)這兩個端子斷開時,，沒有電流流過RX電阻,，因此導(dǎo)體測試儀上的讀數(shù)標(biāo)記為無限。
我們?nèi)绾芜M(jìn)行接觸電阻測試,？
測試標(biāo)準(zhǔn)
評估電氣連接的接觸電阻的標(biāo)準(zhǔn)很大程度上取決于連接類型（例如螺栓連接,，焊接，夾緊,，焊接等）,，金屬接觸表面積,，接觸壓力等。這些因設(shè)備而異,。制造商并沒有要求小接觸電阻的代碼或標(biāo)準(zhǔn),。因此，需要咨詢制造商的建議,。例如,，對于大型螺栓母線接頭，制造商有時會引用10微歐的大接觸電阻,。
接觸電阻測量及其應(yīng)用領(lǐng)域相當(dāng)廣泛,。
電氣連接
電路的電氣連接有各種方式和方法，例如通過焊接,，按壓,，插入和緊密印刷等連接。如果您想了解連接器的質(zhì)量及其傳導(dǎo)特性,，您只需要測量其接觸電阻,。接觸電阻通常用于開關(guān)，繼電器和PCB焊盤的質(zhì)量測試,。
在機(jī)械組件方面,，金屬接觸表面的接觸電阻可用于估計機(jī)械組件的可靠性和緊密性。接觸電阻與接觸表面的傳導(dǎo)特性有關(guān),。對金屬表面的面積越大,，雜質(zhì)越少，導(dǎo)電性越好,，電阻越低,，反之亦然。
通過測量接觸電阻的方法,，我們可以定性地分析機(jī)械組件的可靠性和緊密性,。該技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用于EMC屏蔽組件的質(zhì)量測試中。不同應(yīng)用的測量方法不盡相同,。例如,，在測量大功率開關(guān)和繼電器的接觸電阻的情況下，應(yīng)該使用高電流,，一對接觸,，就像工作狀態(tài)下實際發(fā)生的情況一樣。在干電路連接器的情況下,，測試電流應(yīng)該低,，以防止接頭被熱量熔化（電流小于100mA）。
機(jī)械裝配
在測試機(jī)械裝配質(zhì)量的情況下,，應(yīng)根據(jù)不同的結(jié)構(gòu)選擇不同的測試電路,。結(jié)構(gòu)有兩種,，循環(huán)結(jié)構(gòu)緊密，非循環(huán)結(jié)構(gòu)是開放的,。他們的測量方法*不同,。
如何測量環(huán)路中包含的接觸電阻，但不改變電路,？
一種新方法將解決它。這種方法對于測量復(fù)雜機(jī)械裝配中的接觸電阻非常有用,。接觸電阻定義為觸點兩端的電壓與流過一對閉合觸點的電流之比,。它符合歐姆定律。金屬1和金屬2之間存在接口,。來自電流源的電流I流過該接口,，可以從電流表讀取。然后,，可以從電壓表讀取接口上的電壓降,，如U.然后可以通過計算接觸電阻值Rx。
RX = U / I
由于接觸電阻隨環(huán)境變化而電流通過,，因此測量條件應(yīng)與使用條件相近,。必須使用四端測量技術(shù)和消除熱電動勢技術(shù)進(jìn)行測量。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻,。它需要三個測試點,，三個步驟和三個公式。該方法已被批準(zhǔn)為正確,，也可用于校準(zhǔn)環(huán)路電阻器標(biāo)準(zhǔn),。
接觸電阻測試的典型方法
四線（開爾文）直流電壓降是微歐姆表用于接觸電阻測試的典型方法，通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻,，可確保更的測量,。
•接觸電阻測試使用兩個用于注入的電流連接，以及兩個用于電壓降測量的電位引線; 電壓電纜必須盡可能靠近待測連接,，并且始終在由連接的電流引線形成的電路內(nèi),。
•從電壓降的測量，微處理器控制的微歐姆計算接觸電阻,，同時消除由于連接中的熱EMF效應(yīng)可能產(chǎn)生的誤差（熱電動勢是兩種不同金屬連接在一起時產(chǎn)生的小熱電偶電壓）它們將被添加到測量的總電壓降中,，如果不通過不同的方法從測量中減去它們（極性反轉(zhuǎn)和平均，直接測量熱EMF幅度等）,，它們將在接觸電阻測試中引入誤差,。
•如果在使用低電流測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù)，則建議以更高的電流重新測試觸點,。為什么我們會利用更高的電流獲益,？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化,，其中較低的電流可能在這些條件下產(chǎn)生錯誤（較高）的讀數(shù)。
在接觸電阻測試中,，保持一致的測量條件非常重要,，能夠與趨勢分析的先前和未來結(jié)果進(jìn)行比較。因此,，在進(jìn)行定期測量時,，必須在相同位置進(jìn)行接觸電阻測試，使用相同的測試引線（始終使用制造商提供的校準(zhǔn)電纜）,，并在相同條件下,，以便能夠知道何時進(jìn)行接合，連接,，焊接或設(shè)備將變得不安全,。
結(jié)論
熱導(dǎo)率的測量也受到接觸電阻的影響，在通過粒狀介質(zhì)的熱傳輸中具有特別重要的意義,。類似地,，當(dāng)流體流動從一個通道轉(zhuǎn)換到另一個通道時，發(fā)生流體靜壓力（類似于電壓）的下降,。
接觸電阻測試提供有關(guān)觸點的健康程度及其處理額定電流的能力的信息,。
應(yīng)根據(jù)制造商的規(guī)格驗證大接觸電阻。不應(yīng)超過額定電流,，建議在額定電流的10％下進(jìn)行測試,。
應(yīng)根據(jù)制造商規(guī)范使用小直流測試電流
