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GEN3 CAF2-離子遷移測試儀-256通道 1250V
  • GEN3 CAF2-離子遷移測試儀-256通道 1250V

貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時間:2024-06-28 16:18:29

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離子遷移測試儀-256通道 1250V 有效監(jiān)測離子遷移引致表面絕緣阻抗(SIR)變化以及生產(chǎn)PCB內(nèi)層陽極導電絲(CAF現(xiàn)象),。GEN3 CAF2可根據(jù)標準要求條件和自定義條件進行SIR,,CAF測試,,GEN3 CAF2和IEC,,ISO,IPC,,BSI......等機構(gòu)保持緊密聯(lián)系合作,,并訂立相關(guān)SIR測試協(xié)定,廣泛應用于成品壽命可靠度,,材料和制程特性研究,。

GEN3 Auto CAF2+離子遷移監(jiān)測系統(tǒng)設備

有效監(jiān)測離子遷移引致表面絕緣阻抗(SIR)變化及生成PCB內(nèi)層陽極導電絲(CAF

一、GEN3 CAF2(1250V)用途:

根據(jù)IPC標準中有明確要求,,測試條款為IPC-TM-650 2.6.25 《Conductive Anodic Filament (CAF) Resistance》,。另外各大汽車零部件廠商如德爾福、博世,、大陸等也有其專門的企業(yè)測試標準,,主要測試內(nèi)容就是將被測PCB板放置在85℃,85%RH的環(huán)境中處理1000小時,,并在PCB板的孔與孔之間,、線與線之間,或者是孔與內(nèi)層之間,、層與層之間施加一定的電壓,,然后持續(xù)監(jiān)控其絕緣阻值變化,通過絕緣阻值變化了解其內(nèi)部可能存在的一系列問題,,而這種測試的缺陷就是板材內(nèi)部出現(xiàn)了CAF現(xiàn)象,。通過CAF測試可以基本了解具體是在哪個工藝環(huán)節(jié)可能產(chǎn)生了問題,從而進一步工藝改善,。具體包括指導PCB設計人員選用合適的孔間距和線間距,;指導PCB制造商選用適合的耐CAF材料組合;指導PCB制造商改進生產(chǎn)工藝,;指導CCL供應商改進材料配方和加工工藝。

可根據(jù)各種標準要求條件和自定義條件進行SIR,,CAF測試,。

GEN3保持和IEC,ISO,,IPC,,BSI......等機構(gòu)學會的長期合作,發(fā)展并訂立相關(guān)SIR測試協(xié)定,,應用于成品壽命可靠度,,材料和制程特性研究。

GEN3 CAF2適用于:

IEC61189-5,;ISO9455-17,;IPC-TM-650,;

BELLCORE GR78;DIN German & JIS Japanese STD,;ANS/IPC-JSTD001,;

IPS-JSTD-004;IPC-SM-840,;IPC-CC-830&IEC 1086,;IPC-9691;

ISO 19295:2016(E)Automotive.


二,、GEN3 CAF2(1250V)測試原理:

三,、GEN3 CAF2(1250V)規(guī)格:

四、關(guān)于CAF測試推薦配套:

根據(jù)CAF測試的標準中要求,,需要將被測的-考試板放置在“80℃+85%RH"的環(huán)境中放置1000小時,。故考慮到長時間的測試,對配套的“試驗箱"提出了要求,,推薦使用-艾斯佩克GPR系列高低溫濕熱試驗箱,。

金合博源,為您提供適用的CAF測試設備方案?。,。?/span>

JHBYTEK,,您身邊的測控專家?。?!


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