本公司提供的透射電鏡力電原位系統(tǒng)是通過MEMS芯片在原位樣品臺內(nèi)構(gòu)建力、電復(fù)合多場自動控制及反饋測量系統(tǒng),,結(jié)合EDS,、EELS、SAED,、HRTEM,、STEM等多種不同模式,實現(xiàn)從納米層面實時,、動態(tài)監(jiān)測樣品在真空環(huán)境下隨電場,、施加力變化產(chǎn)生的微觀結(jié)構(gòu)、相變,、元素價態(tài),、微觀應(yīng)力以及表/界面處的結(jié)構(gòu)和成分演化等關(guān)鍵信息,。
透射電鏡力電原位系統(tǒng)的優(yōu)勢:
1、力學(xué)性能
(1)高精度壓電陶瓷驅(qū)動,,納米級別精度數(shù)字化精確定位,。
(2)可進(jìn)行壓縮、拉伸,、彎曲等微觀力學(xué)性能測試,。
(3)nN級力學(xué)測量噪音。
(4)具備連續(xù)的載荷-位移-時間數(shù)據(jù)實時自動收集功能,。
(5)具備恒定載荷,、恒定位移、循環(huán)加載控制功能,,適用于材料的蠕變特性,、應(yīng)力松弛、疲勞性能研究,。
2,、優(yōu)異的電學(xué)性能
(1)芯片表面的保護(hù)性涂層保證電學(xué)測量的低噪音和精確性,電流測量精度可達(dá)皮安級,。
(2)MEMS微加工特殊設(shè)計,,電場和力學(xué)加載同時進(jìn)行,相互獨立控制,。
3,、智能化軟件
(1)人機分離,軟件遠(yuǎn)程控制納米探針運動,。
(2)自動測量載荷-位移數(shù)據(jù),。
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