標(biāo)準砝碼檢定方法,，按照組合比較法測量模式,，對待檢砝碼組中多個待檢砝碼，使用標(biāo)準砝碼以及與待檢砝碼組中標(biāo)稱值小的待檢砝碼相對應(yīng)的參檢砝碼來進行檢定,，其特征在于,，包括以下步驟：砝碼盤采用步驟，采用用于盛放標(biāo)準砝碼的標(biāo)準石去碼盤,、用于盛放參檢破碼的參檢破碼盤以及用于對應(yīng)地盛放各個待檢破碼的多個待檢砝碼盤,；砝碼盤質(zhì)量差值獲取步驟，首先采用組合比較法測量模式中的質(zhì)量差值獲取方式對標(biāo)準砝碼盤,、參檢砝碼盤和各個待檢砝碼盤的質(zhì)量進行比較檢測,，得到標(biāo)準砝碼盤、參檢砝碼盤和所有的待檢砝碼盤之間的一組砝碼盤質(zhì)量差值,；砝碼盤質(zhì)量修正值獲取步驟,，采用組合比較法測量模式中的質(zhì)量修正值計算方式，基于一組砝碼盤質(zhì)量差值,，得到分別與參檢砝碼盤和各個待檢砝碼盤的相對應(yīng)的一組砝碼盤質(zhì)量修正值,；組件設(shè)定步驟，將標(biāo)準砝碼和標(biāo)準砝碼盤設(shè)定為標(biāo)準組件,、將參檢砝碼和參檢砝碼盤設(shè)定為參檢組件以及將各個待檢砝碼和對應(yīng)的待檢砝碼盤分別設(shè)定為多個待檢組件,；組件質(zhì)量差值獲取步驟，采用組合比較法測量模式中的質(zhì)量差值獲取方式對標(biāo)準組件,、參檢組件和各個待檢組件的質(zhì)量進行比較檢測,，得到標(biāo)準組件,、參檢組件和所有的待檢組件之間的一組組件質(zhì)量差值；以及計算檢定步驟,，根據(jù)一組砝碼盤質(zhì)量修正值和一組組件質(zhì)量差值,，基于計算規(guī)則計算得到各個待檢砝碼的砝碼質(zhì)量修正值，從而得到與各個待檢砝碼相對應(yīng)的多個質(zhì)量檢定結(jié)果,，其中,，在砝碼盤質(zhì)量差值獲取步驟中，當(dāng)需要把至少兩個砝碼盤放在一起進行比較檢測時,，砝碼盤是被層層疊加放置在比較儀的秤盤上,，在組件差值獲取步驟中，當(dāng)需要把至少兩個組件放在一起進行比較檢測時,，組件是被層層疊加放置在秤盤上,，在每個組件中的砝碼相對于砝碼盤的放置位置相同。