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關(guān)于E+H雷達(dá)料位計(jì)的測量條件都有那些呢,？
閱讀：1293 發(fā)布時間：2019-8-21關(guān)于E+H雷達(dá)料位計(jì)的測量條件都有那些呢,？
- ·出現(xiàn)沸騰表面,、起泡表面或易生成泡沫液面時，使用FMIR53或PMR54測量,。根據(jù)泡沫的具體成份,，泡沫可以吸收微波，或微波在泡沫表面發(fā)生發(fā)射,。在特定條件下,，測量仍可進(jìn)行。使用FIR50FMR51和FMR52測量時,，建議選擇附加選項(xiàng)“動態(tài)響應(yīng)”（訂購選項(xiàng)540：“應(yīng)用軟件包”,，選型代號：BM）。
- ·出現(xiàn)嚴(yán)重蒸汽或冷凝現(xiàn)象時,，E+H雷達(dá)物位計(jì)FMR50,，F(xiàn)MR51和FMR.52的大測量范圍可能會減小，取決于蒸汽的密度,、溫度和成份>,；請使用FMR53或FMR.54測量。
- ·測量吸附性氣體時,，例如：氨氣MH3或某些碳?xì)浠衔?）,，請?jiān)趯?dǎo)波管中使用Levelflex或Micropilot FMR54測量。
- ·波束射至罐底的位置即為量程起點(diǎn),。特別是在圓盤底罐或帶錐形出料口的罐體中,，物位低于此點(diǎn)，便無法測量,。
- 在導(dǎo)波管中測量時,，電磁波不會*擴(kuò)散至導(dǎo)波管外部，應(yīng)將零點(diǎn)設(shè)置在導(dǎo)波管底部,。在c范圍內(nèi)測量時,，測量精度將降低。為了確保此類應(yīng)用場合中所需的測量精度,，建議將零點(diǎn)設(shè)置在導(dǎo)波管底部上方的C,。
- ·測量低介電常數(shù)的介質(zhì)時（e，=1,。,。。4）3），如果介質(zhì)處于較低物位（低于C）,，罐底可見,。在此范圍內(nèi)測量時，精度將降低,。如無法接受,，在此類應(yīng)用場合中，建議將零點(diǎn)設(shè)置在罐底上方的C,。
- ·理論上,，E+H雷達(dá)物位計(jì)大可測量至PMR51，F(xiàn)MR53和FMR54天線末端,。但是,，考慮腐蝕和粘附的影響，大量程與天線末端間的距離不得小于A,。
- ·使用帶平面天線的FMR54測量時,，特別是測量低介電常數(shù)的介質(zhì)時，大量程與法蘭間的距離不得小A：1 m（3,。28 ft）,。
- 小測量范圍B取決于天線類型。,，罐體高度應(yīng)至少為H（參考下表）,。
