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可靠性試驗是為了確定已通過可靠性鑒定試驗而轉(zhuǎn)入批量生產(chǎn)的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下是否達(dá)到規(guī)定可靠性要求，驗證產(chǎn)品的可靠性是否隨批量生產(chǎn)期間工藝,，工裝,，工作流程，零部件質(zhì)量等因素的變化而降低,。只有經(jīng)過這些試驗檢測,，產(chǎn)品性能才是可以信任，產(chǎn)品質(zhì)量才是過硬的,。
電子產(chǎn)品的可靠性試驗分類就很多,，往下將介紹部分試驗條件。
一,、環(huán)境試驗：部分可靠性專著把樣品置于自然或人工模擬的儲存,、運輸和工作環(huán)境中的試驗統(tǒng)稱為環(huán)境試驗，是考核產(chǎn)品在各種環(huán)境（振動,、沖擊,、離心、溫度,、熱沖擊,、潮熱、鹽霧,、低氣壓等）條件下的適應(yīng)能力,，是評價產(chǎn)品可靠性的重要試驗方法之一。一般主要有以下幾種：
（ 1）穩(wěn)定性烘培,，即高溫存儲試驗,；
試驗?zāi)康模涸诓皇┘与姂?yīng)力的情況下，高溫存儲對產(chǎn)品的影響,。有嚴(yán)重缺陷的產(chǎn)品處于非平衡態(tài),，是一種不穩(wěn)定態(tài),，由非平衡態(tài)向平衡態(tài)的過渡過程既是引發(fā)有嚴(yán)重缺陷產(chǎn)品失效的過程，也是促使產(chǎn)品從非穩(wěn)定態(tài)向穩(wěn)定態(tài)的過渡過程,。這種過渡一般情況下是物理化學(xué)變化,，其速率遵循阿倫尼烏斯公式，隨溫度上升指數(shù)增加,，高溫應(yīng)力的目的是為了縮短這種變化的時間．所以該實驗又可以視為一項穩(wěn)定產(chǎn)品性能,。
試驗條件：一般選定一恒定的溫度應(yīng)力和保持時間。微電路溫度應(yīng)力范圍為75℃至400℃,，試驗時間為24h以上,。試驗前后被試樣品要在標(biāo)準(zhǔn)試驗環(huán)境中，既溫度為25土10℃,、氣壓為86kPa~100kPa的環(huán)境中放置一定時間,。多數(shù)的情況下，要求試驗后在規(guī)定的時間內(nèi)完成終點測試,。
（2）溫度循環(huán)試驗：
試驗?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受一定溫度變化速率的能力及對高溫和低溫環(huán)境的承受能力．是針對產(chǎn)品熱機(jī)械性能設(shè)置的,。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時,，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效,。如漏氣、內(nèi)引線斷裂,、芯片裂紋等,。
試驗條件：在氣體環(huán)境下進(jìn)行。主要是控制產(chǎn)品處于高溫和低溫時的溫度和時間及高低溫狀態(tài)轉(zhuǎn)換的速率,。試驗箱內(nèi)氣體的流通情況,、溫度傳感器的位置、夾具的熱容量都是保證試驗條件的重要因素,。控制原則是試驗所要求的溫度、時間和轉(zhuǎn)換速率都是指被試產(chǎn)品,，不是試驗的局部環(huán)境,。微電路的轉(zhuǎn)換時間要求不大于1min在高溫或低溫狀態(tài)下的保持時間要求不小于10min；低溫為-55℃或-65-10℃,，高溫從85+10℃到300+10℃不等,。
（3）熱沖擊試驗
試驗?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品承受溫度劇烈變化，即承受大溫度變化速率的能力,。試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效．熱沖擊試驗與溫度循環(huán)試驗的目的基本一致,，但熱沖擊試驗的條件比溫度循環(huán)試驗要嚴(yán)酷得多。
（4）低氣壓試驗
試驗?zāi)康模嚎己水a(chǎn)品對低氣壓工作環(huán)境(如高空工作環(huán)境)的適應(yīng)能力,。當(dāng)氣壓減小時空氣或絕緣材料的絕緣強度會減弱,；易產(chǎn)生電暈放電,、介質(zhì)損耗增加、電離,；氣壓減小使散熱條件變差,，會使元器件溫度上升。這些因素都會使被試樣品在低氣壓條件下喪失規(guī)定的功能,，有時會產(chǎn)生損傷,。
試驗條件：被試樣品置于密封室內(nèi)，加規(guī)定的的電壓,，從密封室降低氣壓前20min直至試驗結(jié)束的一段時間內(nèi),，要求樣品溫度保持在25+-1.0℃的范圍。密封室從常壓降低到規(guī)定的氣壓再恢復(fù)到常壓,，并監(jiān)視這‘過程中被試樣品能否正常工作,，微電路被試樣品所施加電壓的頻率在直流到20MHz的范圍內(nèi)，電壓引出端出現(xiàn)電暈放電被視為失效,。試驗的低氣壓值是與海拔高度相對應(yīng)的,，并分若干檔．如微電路低氣壓試驗的A檔氣壓值是58kPa，對應(yīng)高度是4572m,，E檔氣壓值是1.1kPa,，對應(yīng)高度是30480m等等。
（5）耐濕試驗
試驗?zāi)康模阂允┘蛹铀賾?yīng)力的方法評定微電路在潮濕和炎熱條件下抗衰變的能力,，是針對典型的熱帶氣候環(huán)境設(shè)計的,。微電路在潮濕和炎熱條件下衰變的主要機(jī)理是由化學(xué)過程產(chǎn)生的腐蝕和由水汽的浸入、凝露,、結(jié)冰引起微裂縫增大的物理過程,。試驗也考核在潮濕和炎熱條件下構(gòu)成微電路材料發(fā)生或加劇電解的可能性，電解會使絕緣材料電阻宰發(fā)生變化,，使抗介質(zhì)擊穿的能力變?nèi)酢?/span>
試驗條件：潮熱試驗有兩種,，即文變潮熱試驗和恒定潮熱試驗。交受潮熱試驗要求被試樣品在相對濕度為90％～100％的范圍內(nèi),，用一定的時間(‘般2．5h)使溫度從25℃上升到65℃,，井保持3h以上；然后再在相對濕度為80％一100％的范圍內(nèi),，用一定的時間(—般2.5 h)使溫度從6s℃下降到25℃,，再進(jìn)行一次這樣的循環(huán)后再在任意濕度的情況下將溫度下降到一10 c，并保持3h以上‘再恢復(fù)到溫度為25℃,，相對濕度等于或大于80％的狀態(tài),。這就完成了一次文變潮熱的大循環(huán)，大約需要24h。
一般一次耐濕試驗,，上述交變潮熱的大循環(huán)要進(jìn)行10次．試驗時被試樣品要施加—定的電壓,。試驗箱內(nèi)每分鐘的換氣量要求大于試驗箱容積的5倍。被試樣品應(yīng)該是經(jīng)受過非破壞性引線牢固性試驗的樣品,。
（6）鹽霧試驗
試驗?zāi)康模阂约铀俚姆椒ㄔu定元器件外露部分在鹽霧,、潮濕和炎熱條件下抗腐蝕的能力，是針對熱帶海邊或海上氣候環(huán)境設(shè)計的．表面結(jié)構(gòu)狀態(tài)差的元器件在鹽霧,、湘濕和炎熱條件下外露部分會產(chǎn)生腐蝕,。
試驗條件：鹽霧試驗要求被試樣品上不同方位的外露部分都要在溫度、濕度及接收的鹽淀積速率等方面處于相同的規(guī)定條件,。這一要求是通過樣品在試驗箱內(nèi)放置的相互間的最小距離和樣品的放置角度來滿足的,。
試驗溫度：一般要求為(35+-3)'C、在24h內(nèi)鹽淀積速率為2X104mg／m2~5X104mg／m2,。鹽淀積速率和濕度是通過產(chǎn)生鹽霧的鹽溶液的溫度,、濃度及流經(jīng)它的氣流決定的，氣流中氧氣和氮氣比份要與空氣相同,。
試驗時間：一般分為24h,、48h、96h和240h等,。
（7）輻照試驗
試驗?zāi)康模嚎己宋㈦娐吩诟吣芰Ｗ虞椪窄h(huán)境下的工作能力,。高能粒子進(jìn)入微電路會使微觀結(jié)構(gòu)發(fā)生變化產(chǎn)生缺陷或產(chǎn)生附加電荷或電流。從而導(dǎo)致微電路參數(shù)退化,、發(fā)生鎖定,、電路翻轉(zhuǎn)或產(chǎn)生浪涌電流引起燒毀失效。輻照超過某一界限會使微電路產(chǎn)生損傷,。
試驗條件：微電路的輻照試驗主要有中子輻照和γ射線輻照兩大類,。又分總劑量輻照試驗和劑量率輻照試驗。劑量率輻照試驗都是以脈沖的形式對披試微電路進(jìn)行輻照的,。在試驗中要依據(jù)不同的微電路和不同的試驗?zāi)康膰?yán)格控制輻照的劑量串和總劑量,。否則會由于輻照超過界限而損壞樣品或得不到要尋求的閩值。輻照試驗要有防止人體損傷的安全措施,。
