產(chǎn)品介紹

X射線膜厚檢測儀是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產(chǎn)生低能量的光子,，俗稱為二次熒光,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值，電腦操作,，非常簡單,，江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)X射線膜厚檢測儀生產(chǎn)廠家，thick8000是公司新款的X射線膜厚檢測儀,，采用上照方式,，移動測試平臺，使整個自動化程度大幅度提高，滿足快速的要求,。

X射線膜厚Thick8000檢測儀性能優(yōu)勢

1.精密的三維移動平臺 

2.的樣品觀測系統(tǒng) 

3.良好的圖像識別 

4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測 

5.四種微孔聚焦準直器,，自動切換 

6.雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞 

7.采用大面積高分辨率探測器,，有效降低檢出限,，提高測試精度

全自動智能控制方式，一鍵式操作!

開機自動自檢,、復位,； 

開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺,，方便放樣,； 

關(guān)蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦,； 

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點,； 

點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結(jié)果,。

X射線膜厚Thick8000檢測儀技術(shù)指標

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U） 

同時檢測元素：多24個元素,，多達5層鍍層

分析含量：一般為2ppm到99.9% 

鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

SDD探測器：分辨率低至135eV

良好的微孔準直技術(shù)：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭 

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm,、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合 

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度：小于0.1um

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

部分產(chǎn)品

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應(yīng)用領(lǐng)域

X射線膜厚檢測儀廣泛應(yīng)用于小螺絲,、螺帽、螺栓,、電子連接器,、汽車配件、端子,、PCB線路板,、電子元器件等產(chǎn)品的金屬鍍層快速測量。