EDX 600 X光膜厚儀測厚儀——X熒光光譜儀

EDX600X光膜厚儀測厚儀——X熒光光譜儀

EDX600X光膜厚儀測厚儀是集天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗,，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件,、友好的操作界面來滿足貴金屬成分檢測的需要,，人性化的設(shè)計,，使測試工作更加輕松完成。

EDX600X光膜厚儀測厚儀貴金屬檢測儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒探測器,，以實在的價格定位,，滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形,、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,，使儀器操作更人性化、更方便,。

性能特點

專業(yè)貴金屬檢測,、鍍層厚度檢測。
智能貴金屬檢測軟件,，與儀器硬件相得益彰,。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型,。
多變量非線性回收程序,。

X光膜厚儀測厚儀技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍：從鉀（K）到鈾（U）。
測量對象：固體,、液體,、粉末
分析檢出限可達：ppm。
分析含量一般為：ppm到99.9％,。
多次測量重復(fù)性可達：0.1％,。
長期工作穩(wěn)定性為：0.1％。

X光膜厚儀測厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置

單樣品腔,。
正比計數(shù)盒探測器,。
信號檢測電子電路。
高低壓電源,。
X光管。
外觀尺寸： 430×380×355mm 
樣品腔尺寸：306×260×78mm 
重量：30kg