產(chǎn)品介紹

X光金屬鍍層測(cè)厚儀是針對(duì)鍍層厚度測(cè)量,，鍍層元素種類及含量的快速無(wú)損分析的需求,，特別設(shè)計(jì)該款儀器,，其特點(diǎn)可以概括以下幾點(diǎn)：1、上照式2,、測(cè)試組件可升降3,、小準(zhǔn)直器4、高分辨率探頭5,、自動(dòng)定位高度6,、測(cè)試口安全防護(hù)7、良好的射線屏蔽8,、超大樣品腔設(shè)計(jì)

產(chǎn)品性能

1,、小準(zhǔn)直器：≤0.1，可以進(jìn)行小樣品測(cè)試（小點(diǎn)）的測(cè)試,，從而提高測(cè)試的準(zhǔn)確率和精確度,。

2、高度激光：自動(dòng)定位高度,，可滿足不規(guī)則表面樣品的測(cè)試

3,、高分辨率探頭：提高分析的準(zhǔn)確性。

產(chǎn)品配置

X光金屬鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置為：X射線管,，正比計(jì)數(shù)器半導(dǎo)體探測(cè)器,，高清攝像頭，高度激光,，信號(hào)檢測(cè)電子電路,。

性能指標(biāo)

X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶,；任選靶材：W,、Mo、Ag等

X射線管：管電壓50KV,，管電流1mA 

可測(cè)元素：Ti～U 

檢測(cè)器：正比計(jì)數(shù)管 

樣品觀察：CCD攝像頭

測(cè)定軟件：薄膜FP法,、檢量線法 

Z軸程控移動(dòng)高度 20mm

產(chǎn)品應(yīng)用

主要應(yīng)用于金屬鍍層（鍍鎳,、鍍鋅,、鍍錫,、鍍銅、鍍銠,、鍍鈀、鍍銀,、鍍金,、鍍鉻等）厚度測(cè)試,，廣泛應(yīng)用于線路板,、板材,、汽車配件,、五金工具,、彈簧、電子連接器,、五金端子,、螺絲、半導(dǎo)體封裝材料等產(chǎn)品鍍層厚度測(cè)量,。