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在DC耐壓測(cè)試時(shí),，為何需要緩升時(shí)間?
閱讀：2609 發(fā)布時(shí)間：2022-7-14安規(guī)測(cè)試儀用于高電壓元,、器件的耐壓測(cè)量試驗(yàn)(用交,、直流耐壓儀)，如硅堆等,。主要是用來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品是否漏電,、是否接地良好、會(huì)不會(huì)傷害人身安全的專(zhuān)用,，主要檢測(cè)項(xiàng)目有電壓,、泄漏電流、絕緣電阻和接地電阻,。
DC耐壓測(cè)試通常會(huì)需要加上緩升時(shí)間以及放電時(shí)間,，因?yàn)榇蠖嗟腄UT具有電容性而會(huì)導(dǎo)致充電電流產(chǎn)生。為了使充電變位電流(charge current)穩(wěn)定,，需要緩升時(shí)間來(lái)緩沖,，才不會(huì)因充電電流而導(dǎo)致漏電流過(guò)高，進(jìn)而判斷為不良品(FAIL),。