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綜合斷口測量分析儀
閱讀:3188 發(fā)布時間:2018-5-16設備說明
名 稱:綜合測量分析儀
型 號:TOP- Complex II
生產商:深圳思邁科技技術有限公司
用 途:
該產品適用于金屬材料落錘(DWTT),、擺錘沖擊、拉伸試樣斷口,、缺口,、膨脹值、裂紋長度,、布氏硬度,、維氏硬度、CTOD裂紋,、Kic臨界裂紋,、線段、角度,、圓心,、矩形等測量分析工作。通過其特定的電子光學采樣系統(tǒng)將沖擊試樣斷口形貌進行全視野實時采樣,,可完成落錘,、擺錘沖擊試樣斷口纖維率進行測量。操作方便,,準確率高,,并能進行以往手工不能完成的操作。儲存的結果數據可供用戶進行反復處理,。
該機適用于測量金屬材料在動負荷下抵抗沖擊性能的配套檢測儀器,是金屬材料生產廠家,產品質量檢驗,大專院校及科研單位進行新材料研究*的測試儀器.
產品闡述
隨著國內工業(yè)技術的發(fā)展,,越來越多的行業(yè)已經開始執(zhí)行GB/T229-2007《金屬夏比沖擊試驗方法》GB/T5482-2007(金屬材料動態(tài)撕裂試驗方法)、GB/T 8363-2007(鐵素體鋼落錘撕裂試驗方法),、ASTM E23及相關的ISO標準,,所以在整個試驗后,通過沖擊試樣斷口分析材料至關重要,。幫助實驗人員更真實的了解材料的特性,,分析實驗數據的準確性等,其質量檢驗是一個重要的控制手段,,目前,,我公司通過電子光學投影技術檢驗實現了切實可行的方法,。
TOP-Complex II綜合測量分析儀是我公司根據廣大用戶的實際需要和GB/T299-2007《金屬夏比沖擊試驗方法》GB/T5482-2007(金屬材料動態(tài)撕裂試驗方法)、GB/T 8363-2007(鐵素體鋼落錘撕裂試驗方法)中沖擊試樣斷口的要求而開發(fā)的一種于檢驗沖擊試樣斷口精密測量的精密儀器,。該儀器是利用光學投影方法將被測的沖擊試樣斷口全貌顯示在PC上,,讓試驗人員更清楚的觀看、測量,、分析沖擊試樣斷口的形貌,,來分析材料特性以及試驗數據。其優(yōu)點是操作簡便,,觀察直觀,消除了人員測量的操作誤差,,解決了常規(guī)無法測量的問題,,保存數據為以備日后復查提供可可靠地數據。
設備組成
系統(tǒng)名稱 | 類別 | 配置要求 |
A,、主機 | 包括機架,、調節(jié)系統(tǒng)、 | 必配 |
B,、光源 | 高亮度,、低功耗LED | 必配 |
C、載物臺 | X,、Y可調70*50 | 必配 |
D,、數字光學采集 | CMOS,鏡頭及連接裝置 USB連接線 | 必配 |
E,、分析軟件 | SMTMeasSystem_Complex II 測量軟件包 | 必配 |
F,、PC | 21寸顯示器1600*900以上分辨率、CPU主頻3.2GHz以上,、獨立顯卡,。 | 用戶自備 |
G、標定尺 | 標尺 | 必須 |
H,、授權 | USB授權加密 | 必須 |
I,、試樣夾具 | 手動加、于落錘試樣等大試樣 | 必須 |
J,、夾具 |
| 必須 |
結構與性能
主機:
采用高精度滾軸絲杠及研究級線性滑組,。
工業(yè)鋁型材外殼,美觀,、高剛性,。
步進電機調整Z軸空間,平穩(wěn),、準確,。
光源:
亮度高,、功耗低、發(fā)熱少,、壽命長,,發(fā)光均勻,為采集系統(tǒng)提供了良好的光環(huán)境,。
載物臺:
調節(jié)試樣,、快速,每次試樣都可以快速的調節(jié)合適的位置上,,消除了人為調節(jié)試樣的麻煩,。
數字光學采集:
500像素高精度工業(yè)級鏡頭以及高質量工業(yè)級CMOS保證了成像的高清晰,SMT鏡頭,,快速光學數字采集卡提供了快速采集數據的平臺,,使試樣結果分析時間大大減少。
軟件
SMTMeasSystem_Complex_II_4.0綜合測量影像系統(tǒng),,主要用于試樣尺寸,、斷口、缺口,、Kic,、W(AO)、硬度壓痕測量,;