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斷裂韌性裂紋長度測量
閱讀:2698 發(fā)布時間:2021-5-261.1斷裂韌性綜合斷口圖像測量儀
TOP-Complex II 綜合斷口圖像分析儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實際需要和 《GBT 21143-2014 準靜態(tài)斷裂韌度統(tǒng)一試驗方法》、《GB-T 4161-2007金屬材料平面應變斷裂韌度KIC試驗方法》中對斷口的要求而開發(fā)的一種專用于檢驗沖擊試樣斷口精密測量的精密儀器,。
該產(chǎn)品適用于對金屬材料斷口,、Kic、Jic斷裂韌性裂紋長度測量,、線,、角度、圓心,、矩形,、試樣尺寸等測量分析工作。通過其特定的電子光學采樣系統(tǒng)將沖擊試樣斷口形貌進行全視野實時采樣,,可完成對斷裂韌性斷口等分測量,。操作方便,準確率高,,并能進行以往手工不能完成的操作,。儲存的結果數(shù)據(jù)可供用戶進行反復核對處理。
1.2測量原理
·尺寸測量
自動捕捉被測試樣邊緣,,通過選擇捕捉范圍,,系統(tǒng)自動多點自動捕捉被測試樣的邊緣,如長度,、角度,、圓等;
自動尺寸測量,,多種尺寸測量構建,,滿足所有常規(guī)尺寸測量自動構建;特殊尺寸測量構建,,通過系統(tǒng)自動滿足特殊尺寸自動測量,;如:自動構建兩圓心水平直線中線點于點的自動構建自動測量。
自定義測量模板,,瞬間自動測量最多99種尺寸構建,、測量;
采用我公司新技術像素解析技術(將一個像素解析分解千百個小塊),,更精確的捕捉,,更精確的測量。
·斷口測量
自動均分段落,自動計算數(shù)據(jù),;
多種測量方式,,滿足各種斷裂韌性斷面測量及分析;
多面積測量,,采用像素解析技術選擇被測區(qū)域邊緣,;
自動紅外對焦,大景深,、大視場,、無畸變(采用畸變修復技術);
·硬件
高像素光學采集系統(tǒng),,高清晰的成像系統(tǒng),;
高識別率、微畸變大景深的專用鏡頭,;
低功耗,、高亮度、無影專用LED光源,;
1.3主要技術參數(shù)
·試樣類型:CT試樣,、彎曲試樣等
·測量視場范圍:60mm×45mm(可選80×60mm)
·測量方式:手動、自動,、模板(自由切換)
·測量分辨率:0.001mm
·重復測量精度:<0.005mm
·報告格式:EXCEL
·外形尺寸:350×400×1050mm
·總功率:200W 220V/50Hz
·使用環(huán)境要求:周圍環(huán)境無腐蝕介質,,無震動,無強電磁場干擾
1.4 測量功能
·Kic,、Jic斷裂韌性裂紋長度測量
CT試樣尺寸測量
·多種宏觀斷口測量
·多種面積,、百分比測量
持久試樣尺寸、缺口測量