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北京同德創(chuàng)業(yè)科技有限公司

半導(dǎo)體分立器件測試儀

時間:2018-4-20閱讀:976
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半導(dǎo)體分立器件測試儀型號:CS2935
 
一、產(chǎn)品特點: 
測試品種覆蓋面廣,、測試精度高、電參數(shù)測試全、速度快,、有良好的重復(fù)性和一致性、工作穩(wěn)定可靠,,具有保護(hù)系統(tǒng)和被測器件的能力,。測試儀由計算機(jī)操控,測試數(shù)據(jù)可存儲打印,。除具有點測試功能外,,還具有曲線掃描功能(圖示儀功能)。系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便,、操作簡單,。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定可靠、硬件故障率低,,在實際測試應(yīng)用中各項技術(shù)指標(biāo)均可達(dá)到器件手冊技術(shù)指標(biāo)及國標(biāo)要求,。 
二、測試參數(shù) 
1. 二管       
VF,、IR,、BVR 
2.  穩(wěn)壓(齊納)二管    
VF、IR,、BV Z 
3.  晶體管       Transistor(NPN型/PNP型) 
      VBE,、ICBO、 LCEO,、IEBO,、BVCEO、BVCBO,、BVEBO,、hFE、VCESAT,、VBESAT ,、VBEON 
4.   可控硅整流器(晶閘管)    
IGT、VGT,、 IH,、IL 、VTM  
5.  場效應(yīng)管    
IGESF,、IGSSF,、 IGSSR、IGSS,、VDSON,、RDSON、VGSTH,、IDSS,、IDON 、gFS,、 BVDGO,、BVGSS 


6.  光電耦合器        
VF 、IR,、CTR,、ICEO,、BVCEO、VCESAT 
*7.三端穩(wěn)壓器 
VO,、SV,、ID、IDV

三,、測試參數(shù)范圍

晶體管

 

測試參數(shù)

測試范圍

ICEO

ICBO

IEBO

1nA-100nA

100nA-1uA

1uA-100uA

100uA-10mA

VCE(sat)

VBE(sat)

0.10V-30V

VBE(VBE(on))

0.10V-30V

hFE

1-99999

V(BR)EBO

0.10V-30V

V(BR)CEO

V(BR)CBO

0.       10V-50V

50V-1499V

 

二管

 

 

測試參數(shù)

測試范圍

IR

1nA-100nA

100nA-1uA

1uA-100uA

100uA-10mA

VF

0.10V-30V

V(BR)

1V-50V

 

50V-1499V

 

穩(wěn)壓二管

 

 

測試參數(shù)

測試范圍

IR

1nA-100nA

100nA-1uA

1uA-100uA

100uA-10mA

VF

0.10V-30V

VZ

0.10V-50V

 

三端穩(wěn)壓器

 

 

測試參數(shù)

測試范圍

VO

0.10V-30V

SV

0.10mV-1V

ID

1uA-10mA

IDV

1uA-10mA

 

MOSFET

 

 

測試參數(shù)

測試范圍

VGS(th)

0.10V-30V

gfs

0.1mS-1000S

RDS(on)

10mΩ-100KΩ

VDS(on)

0.10V-50V

IGSS

1nA-100nA

100nA-1uA

1uA-100uA

100uA-10mA

IDSS

1nA-100nA

100nA-1uA

1uA-100uA

100uA-10mA

ID(on)

0-50A

V(BR)GSS

0.1V-30V

V(BR)DSS

0.1V-1499V

 

光耦

 

 

測試參數(shù)

測試范圍

VF

0.10V-30V

IR

1nA-100nA

100nA-1uA

1uA-100uA

100uA-10mA

VCE(sat)

0.10V-50V

CTR

0.1%-1000%

ICEO

與IR參數(shù)相同

V(BR)ECO V(BR)CEO

0.10V-50V

50V-1499V

 

可控硅

 

 

測試參數(shù)

測試范圍

IGT

10uA-200mA

VGT

0.10V-30V

IH

10uA-1A

IL

10uA-1A

VTM

0.10V-50V

 

四,、技術(shù)指標(biāo)

1、源的指標(biāo)

主壓流源 (VA)

      電壓:

 

 

設(shè)定范圍(V)

±(0~10)

±(14.6mV+0.5%set)

±(10~50)

±(73.2mV+0.5%set)

 

電流:

 

 

測量范圍

±(0-50)uA

±(244nA+0.5% set)

±(50-500) uA

±(2.44uA+0.5% set)

±(0.5-5) mA

±(24.4uA+0.5% set)

±(5-50) mA

±(244uA+0.5% set)

±(50~500) mA

±(2.44mA+0.5%set)

±(0.5~5)A(脈沖)

±(24.4mA+0.5%set)

±(5-50)A(脈沖)

±(244mA+0.5%set)

 

壓流源 (VB)

      電壓:

 

 

設(shè)定范圍(V)

±(0~10)

±(14.6mV+0.5%set)

±(10~30)

±(43.8mV+0.5%set)

 

電流:

 

 

測量范圍

±(0-50)uA

±(244nA+0.5% set)

±(50-500) uA

±(2.44uA+0.5% set)

±(0.5-5) mA

±(24.4uA+0.5% set)

±(5-50) mA

±(244uA+0.5% set)

±(50~500) mA

±(2.44mA+0.5%set)

±(0.5~5)A(脈沖)

±(24.4mA+0.5%set)

±(5-50)A(脈沖)

±(244mA+0.5%set)

 

源(HV)

 

 

設(shè)定范圍(V)

0~1500

±(1.22V+1%set)

 

*1500V時zui大輸出為5mA,。

2,、電壓表的指標(biāo)

測漏電流

 

 

測量范圍

±(0~200)nA

±(2.44nA+0.5% Rdg)

±(0.2-2)uA

±(24.4nA+0.5% Rdg)

±(2-20)uA

±(244nA+0.5% Rdg)

±(20~200) uA

±(2.44uA+0.5% Rdg)

±(0.2~2)mA

±(24.4uA+0.5% Rdg)

±(2-20)mA

±(244uA+0.5% Rdg)

 

測試電壓

 

 

設(shè)定范圍(V)

±(0~10)

±(3mV+0.5% Rdg)

±(10~50)

±(15mV+0.5% Rdg)

 

測擊穿電壓

 

 

設(shè)定范圍(V)

(0~50)V/10mA

±(36.6mV+0.25% Rdg)

(50~1500)V/1mA

±(610.3mV+1% Rdg)

 

放大倍數(shù)

 

 

設(shè)定范圍(V)

1~9999

1%

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