您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
| 濕度 | < 80％ |
|---|
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
單晶少子壽命測(cè)試儀 型號(hào)： LT-2
單晶少子壽命測(cè)試儀
| 是參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測(cè)量,，是半導(dǎo)體的常規(guī)測(cè)試項(xiàng)目之一,。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源,，可測(cè)量包括集成電路級(jí)硅單晶在內(nèi)的各種類(lèi)型硅單晶,，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶,、多晶磷檢棒的壽命測(cè)量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本儀器根據(jù)國(guó)際通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計(jì),，由穩(wěn)壓電源,、高頻源、檢波放大器,，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺(tái)共五部份組成,。采用印刷電路和高頻接插連接。整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊,、測(cè)量數(shù)據(jù)可靠,。 | ||||||||||||||||||||||||
| 技 術(shù) 指 標(biāo) ： | ||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||
其他推薦產(chǎn)品
更多產(chǎn)品-
面議
-
面議
-
面議