您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保 |
|---|---|---|---|
| 范圍 | 1nA-100nA |
用途：
機(jī)械密封件,、光學(xué)零件,、高級(jí)平臺(tái),、平板,、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測(cè)。
功率：20W 電源：220V/50Hz **用燈源照射
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
平面光帶檢測(cè)儀 型號(hào)：JC-008
平面光帶檢測(cè)儀
用途：
機(jī)械密封件,、光學(xué)零件,、高級(jí)平臺(tái)、平板,、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測(cè),。
功率：20W 電源：220V/50Hz **用燈源照射
規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
產(chǎn)品特點(diǎn)
*是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)
測(cè)量被測(cè)量面的平面度,。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面,、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件,，例如,，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái),、平板,、導(dǎo)軌、密封件等,。平面平晶特別適用于
計(jì)量單位,、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
規(guī)格φ60*20mm φ80*20mm φ100*25mm
φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做
產(chǎn)品特點(diǎn)
*是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)
測(cè)量被測(cè)量面的平面度,。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面,、工作面的平面度。亦可用于檢定
高精度的平面零件,，例如,，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái),、平板,、導(dǎo)軌、密封件等,。平面平晶特別適用于
計(jì)量單位,、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。
*是以光波干涉原理為基礎(chǔ),，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)
測(cè)量被測(cè)量面的平面度,。
*平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度,。亦可用于檢定
高精度的平面零件,，例如，平面光學(xué)零件,、高級(jí)平臺(tái),、平板、導(dǎo)軌,、密封件等,。平面平晶特別適用于
計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板,。
