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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
電源模塊自動(dòng)化測(cè)試方案ATECLOUD-Power
1,、測(cè)試名稱
基于ATECLOUD的電源模塊測(cè)試方案
2、測(cè)試目的
提升電源模塊測(cè)試效率,，減少測(cè)試人員成本,，降低測(cè)試專業(yè)知識(shí)要求，增加數(shù)據(jù)精準(zhǔn)度,，為企業(yè)提供專業(yè)決策的數(shù)據(jù)支持,，從而降本增效。
3,、測(cè)試設(shè)備
示波器,、電子負(fù)載、電源,、數(shù)字萬(wàn)用表,、納米BOX、ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)（各品牌示波器,、電子負(fù)載,、數(shù)字萬(wàn)用表均可兼容）
本次演示使用（普源示波器DHO4404、普源電子負(fù)載DL3031A,、普源電源DP832,、普源數(shù)字萬(wàn)用表DM3068、納米BOX,、ATECLOUD測(cè)試平臺(tái)）
4,、測(cè)試內(nèi)容
本次測(cè)試將示波器,、電子負(fù)載、電源、萬(wàn)用表通過(guò)納米BOX連接到服務(wù)器上,，在通過(guò)ATECLOUD的指令控制儀器對(duì)電源模塊進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量,，本次測(cè)試的項(xiàng)目包括空載測(cè)紋波、空載測(cè)輸入電流+輸出電壓,、啟動(dòng)電壓（步進(jìn)/遍歷）,、電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率,，用戶只需要在ATECLOUD平臺(tái)搭建對(duì)應(yīng)的測(cè)試方案即可完成對(duì)儀器的程控和電源模塊的數(shù)據(jù)收集,，同時(shí)支持?jǐn)?shù)據(jù)報(bào)表的一鍵導(dǎo)出和自動(dòng)儲(chǔ)存。
5、測(cè)試流程
5.1,、通過(guò)LAN 通訊總線,、測(cè)試夾具以及其它線纜對(duì)測(cè)試所需的設(shè)備和需要測(cè)試的電源模塊進(jìn)行連接同時(shí)接入納米box進(jìn)入納米服務(wù)器。
5.2,、將包含ATECLOUD平臺(tái)的電腦接入納米服務(wù)器,，登錄ATECLOUD平臺(tái)并在ATECLOUD智能測(cè)試云平臺(tái)中根據(jù)所以的設(shè)備儀器搭建所需的測(cè)試方案。
5.3,、運(yùn)行ATECLOUD平臺(tái)中搭建好的測(cè)試方案,，可以在運(yùn)行測(cè)試界面看到對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)據(jù)。
5.4,、在測(cè)試完成后,，在數(shù)據(jù)報(bào)告界面選擇需要的報(bào)告模板，通過(guò)記錄報(bào)告界面可以看到所有的數(shù)據(jù)報(bào)告,。
5.5,、選擇自己需要的數(shù)據(jù)報(bào)告選擇導(dǎo)出報(bào)告，即可得到測(cè)試的具體數(shù)據(jù)報(bào)告文檔,。
6,、測(cè)試過(guò)程界面
6.1、ATECLOUD智能測(cè)試平臺(tái)方案搭建界面,。
6.2,、方案中使用的儀器與具體型號(hào),，可選擇進(jìn)入測(cè)試。
6.3,、運(yùn)行測(cè)試中的測(cè)試運(yùn)行界面，測(cè)試數(shù)據(jù)生成,。
6.4,、數(shù)據(jù)報(bào)告導(dǎo)出后界面，可以自行設(shè)計(jì)或選擇文本格式與模板,。
7,、ATECLOUD-Power電源模塊測(cè)試與Chroma8000區(qū)別
以上的電源模塊自動(dòng)化測(cè)試方案ATECLOUD-Power測(cè)試過(guò)程只需1.5~2分鐘即可完成電源模塊空載測(cè)紋波,、空載測(cè)輸入電流+輸出電壓,、啟動(dòng)電壓（步進(jìn)/遍歷）、電壓調(diào)整率,、負(fù)載調(diào)整率的測(cè)試,，而采集數(shù)據(jù)與報(bào)告導(dǎo)出只需15秒即可完成，相比人工手動(dòng)測(cè)試和記錄報(bào)告效率提升50-100倍,，同時(shí)只需一個(gè)懂儀器操作的人員即可完成測(cè)試,，極大節(jié)省了人力成本。