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ATECLOUD芯片自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)，打破傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試5大問(wèn)題
芯片測(cè)試通常包括以下幾個(gè)步驟：設(shè)計(jì)驗(yàn)證測(cè)試（Design Verification Testing）：在設(shè)計(jì)階段,，通過(guò)一系列的仿真和驗(yàn)證測(cè)試來(lái)確保設(shè)計(jì)的正確性和可行性,。這些測(cè)試可能包括電路板布局、邏輯分析,、時(shí)序分析等,。原型驗(yàn)證測(cè)試（Prototype Verification Testing）：在原型開(kāi)發(fā)階段，對(duì)設(shè)計(jì)的硬件部分進(jìn)行實(shí)際測(cè)試,，以驗(yàn)證其功能和性能,。這可能包括單元測(cè)試、集成測(cè)試,、系統(tǒng)測(cè)試等,。生產(chǎn)驗(yàn)證測(cè)試（Production Verification Testing）：在量產(chǎn)前，對(duì)生產(chǎn)的芯片進(jìn)行全面的測(cè)試,，以確保其滿(mǎn)足規(guī)格要求和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),。這可能包括生產(chǎn)線測(cè)試、環(huán)境測(cè)試,、可靠性測(cè)試等,。故障分析與修復(fù)（Fault Analysis and Repair）：在生產(chǎn)過(guò)程中，如果發(fā)現(xiàn)芯片存在問(wèn)題,，需要進(jìn)行故障分析和修復(fù),。這可能包括使用專(zhuān)門(mén)的設(shè)備和工具對(duì)芯片進(jìn)行檢測(cè)和修復(fù)。最終測(cè)試（Final Testing）：在芯片交付給客戶(hù)之前,，進(jìn)行最后的全面測(cè)試,，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能符合預(yù)期。這可能包括功能測(cè)試,、性能測(cè)試,、兼容性測(cè)試等。以處理器舉例,，F(xiàn)inalTest可以分成兩個(gè)步驟：
1,、?動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）
2、系統(tǒng)級(jí)別測(cè)試（SLT）
ATE的測(cè)試?般需要?秒,，?SLT需要?個(gè)?時(shí),，ATE的存在??的減少了芯?測(cè)試時(shí)間。
ATE負(fù)責(zé)的項(xiàng)??常之多,，?且有很強(qiáng)的邏輯關(guān)聯(lián)性,。測(cè)試必須按順序進(jìn)?,，針對(duì)前列的測(cè)試結(jié)果，后列的測(cè)試項(xiàng)?可能會(huì)被跳過(guò),。這些項(xiàng)?的內(nèi)容屬于公司機(jī)密,，?如電源檢測(cè)，管腳DC檢測(cè),，測(cè)試邏輯（?般是JTAG）檢測(cè),，burn-in，物理連接PHY檢測(cè),，IP內(nèi)部檢測(cè)（包括Scan,，BIST，F(xiàn)unction等）,，IP的IO檢測(cè)（?如DDR,，SATA，PLL,，PCIE,，Display等），輔助功能檢測(cè)（?如熱?學(xué)特性,，熔斷等）,。這些測(cè)試項(xiàng)都會(huì)給出Pass/Fail，根據(jù)這些Pass/Fail來(lái)分析芯?的體質(zhì),，是測(cè)試?程師的?作,。
SLT在邏輯上則簡(jiǎn)單?些,，把芯?安裝到主板上，配置好內(nèi)存,，外設(shè),，啟動(dòng)?個(gè)操作系統(tǒng)，然后?軟件烤機(jī)測(cè)試,，記錄結(jié)果并?較,。另外還要檢測(cè)BIOS相關(guān)項(xiàng)等。?所有的這些?作,，都需要芯?設(shè)計(jì)?程師在流?之前都設(shè)計(jì)好,。測(cè)試?作在芯?內(nèi)是由專(zhuān)屬電路負(fù)責(zé)的，這部分電路的搭建由DFT?程師來(lái)做,，在流?后,，DFT?程師還要?成配套輸??量，?般會(huì)?成?萬(wàn)個(gè),。
這些?量是否能夠正常的檢測(cè)芯?的功能,，需要產(chǎn)品開(kāi)發(fā)?程師來(lái)保證。此外還需要測(cè)試?程師,，產(chǎn)品?程師,，和助?來(lái)?同保證每天能夠完成?萬(wàn)?芯?的?產(chǎn)任務(wù)不會(huì)因?yàn)闇y(cè)試邏輯bug?延遲?？紤]到每?次測(cè)試版本迭代都是??萬(wàn)?的代碼,，保證代碼不能出錯(cuò)。需要涉及上百?的測(cè)試?程師協(xié)同?作,，這還不算流?線技?,，因此測(cè)試是費(fèi)時(shí)費(fèi)?的?作。實(shí)際上,，很多?公司芯?的測(cè)試成本已經(jīng)接近研發(fā)成本,。因此比傳統(tǒng)自動(dòng)化芯片測(cè)試設(shè)備更具優(yōu)勢(shì)的ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)是如今大多企業(yè)進(jìn)行芯片自動(dòng)化測(cè)試的選擇。
ATECLOUD是智能化測(cè)試的一套控制系統(tǒng),。主要用于程控設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試,，ATECLOUD可以解決傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試的所有痛點(diǎn)問(wèn)題，傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試出現(xiàn)的研發(fā)周期長(zhǎng)/費(fèi)用高/靈活性差/部署麻煩/數(shù)據(jù)安全這些問(wèn)題 ATECLOUD都可以解決,。
ATECLOUD作為國(guó)產(chǎn)化的智能測(cè)試平臺(tái)具有以下優(yōu)勢(shì)：
快速：
快速組建測(cè)試工步,，客戶(hù)最清楚自己的測(cè)試過(guò)程，自己編寫(xiě)隨時(shí)優(yōu)化測(cè)試過(guò)程即刻開(kāi)始利用數(shù)據(jù),。
靈活：
1,、靈活支持各類(lèi)接口協(xié)議；
2,、靈活配置對(duì)數(shù)據(jù)的加工和判別算法,，可以支持自定義計(jì)算公式；
3,、靈活定義測(cè)試報(bào)告,；
4、靈活監(jiān)控測(cè)試過(guò)程（電腦/平板/監(jiān)控大屏）測(cè)試數(shù)據(jù)智能分析：在線分析/定制數(shù)據(jù)看板——可改進(jìn)產(chǎn)品質(zhì)量,，改進(jìn)測(cè)試工藝給領(lǐng)導(dǎo)看方便管理,。
安全：
1、通訊安全（網(wǎng)絡(luò)環(huán)節(jié)采用https加密傳輸,；
2,、數(shù)據(jù)安全（多節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)庫(kù)）；
3,、應(yīng)用部署,。
ATECLOUD智能云測(cè)試平臺(tái)詳情介紹：