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　　電子元器件老化是指電子元器件在使用過(guò)程中,，由于環(huán)境溫度,、濕度、電壓,、電流,、紫外線等因素的影響,，使元器件的性能發(fā)生變化,，從而影響元器件的使用壽命。電子元器件老化的主要表現(xiàn)有：電容器的容量變小,，電阻的阻值變大,，二極管的電流變小，晶體管的電流變小,，發(fā)射管的電流變小,，電感的電感值變小，電容器的損耗變大,，電阻的損耗變大,，二極管的損耗變大，晶體管的損耗變大,，發(fā)射管的損耗變大,，電感的損耗變大等。電子元器件老化會(huì)對(duì)電子設(shè)備的性能產(chǎn)生不利影響,，因此,，應(yīng)采取有效措施，降低電子元器件老化的影響,，以保證電子設(shè)備的正常使用,。

　　提到“老化"，你是否會(huì)聯(lián)想到

　　老化的皮膚,？生銹的鐵,？樹(shù)木老化？

　　那你還知道我們?nèi)粘Ｉ钍褂玫碾娮赢a(chǎn)品也會(huì)出現(xiàn)老化現(xiàn)象,，在電子產(chǎn)品在加工過(guò)程中，由于經(jīng)歷了復(fù)雜的加工和元器件物料的大量使用,，無(wú)論是加工缺陷還是元器件缺陷,，都可分為明顯缺陷和潛在缺陷，明顯缺陷指那些導(dǎo)致產(chǎn)品不能正常工作的缺陷,，例如短路 / 斷路,。而潛在缺陷導(dǎo)致產(chǎn)品暫時(shí)可以使用，但在使用中缺陷會(huì)很快暴露出來(lái),，產(chǎn)品不能正常工作,。潛在缺陷則無(wú)法用常規(guī)檢驗(yàn)手段發(fā)現(xiàn)，而是運(yùn)用老化的方法來(lái)剔除,。如果老化方法效果不好,，則未被剔除的潛在缺陷將最終在產(chǎn)品運(yùn)行期間以早期失效（或故障）的形式表現(xiàn)出來(lái)，從而就會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品返修率上升,，維修成本增加,。

　　因此針對(duì)電子元器件的老化問(wèn)題，它的檢測(cè)就很有必要,。

　　納米軟件研發(fā)的 NSAT-2000電子元器件自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)主要對(duì)電子系統(tǒng)的某些關(guān)鍵器件,、設(shè)備及芯片，在加速壽命退化后,，對(duì)代表其性能退化的電參量進(jìn)行測(cè)試,。同時(shí)還適用于二極管、三極管,、絕緣柵型場(chǎng)效應(yīng)管等元器件的穿透電流,、最大整流電流、正向壓降等參數(shù)的測(cè)試,，獲取測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí),，用戶(hù)可以根據(jù)數(shù)據(jù)更直觀的了解到產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。

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