LCR表測電容怎么實現(xiàn)連續(xù)測試?ATECLOUD云測試平臺幫您解決
河南某企業(yè)在生產(chǎn)測試中需要用到LCR表測試電容的容量和損耗,,目前在使用是德科技E4980a LCR 測試數(shù)據(jù)時,,發(fā)現(xiàn)不能連續(xù)測試,,不能自動記錄數(shù)據(jù),。通過和納米軟件Namisoft溝通,,希望我們可以實現(xiàn)連續(xù)測試并將測試數(shù)據(jù)自動記錄,客戶在儀器界面設(shè)置參數(shù),,軟件同步設(shè)置后抓取數(shù)據(jù),。我們?yōu)榭蛻粼贏TECLOUD智能云測試平臺上快速搭建了測試方案,通過演示達到了客戶的預(yù)期,,下面一起來看看LCR表測試電容的連續(xù)測試如何在ATECLOUD智能云測試平臺上實現(xiàn)吧,。
LCR表測電容測試流程如下:
連接設(shè)備——創(chuàng)建測試項目——編輯測試方案——啟動測試——查看歷史數(shù)據(jù)并分析
1、登錄ATECLOUD智能云測試平臺
2,、創(chuàng)建測試項目,。輸入項目名稱(LCR表循環(huán)測電容)、添加要測試的測試儀器信息,,如圖添加了LCR數(shù)字電橋測試儀器信息,。
編輯測試工步,,在此界面可以對LCR測電容測試的相關(guān)參數(shù)進行工步編輯,。
3,、編輯測試方案。在方案編輯里完善LCR測電容測試項目信息與測試項目組建,,并對設(shè)置的信息進行保存,。
4,、啟動測試。點擊啟動測試按鈕,,LCR測電容測試方案開始運行,,并實時顯示測試結(jié)果,測試完成后反饋PASS/FAIL值,、電容值,。
5,、查看歷史數(shù)據(jù)并分析??稍跍y試記錄里查看LCR測電容方案的測試記錄,,方便用戶對數(shù)據(jù)進行分析處理。
ATECLOUD 智能云測試平臺介紹
ATECLOUD 智能云測試平臺可用于儀器程控、電子元器件自動測試,、多通道數(shù)據(jù)采集測試,、電源模塊自動測試、LCR自動測試等,,也可根據(jù)客戶需要進行產(chǎn)品的定制開發(fā),。
* 產(chǎn)品特點:零代碼編程;快速搭建測試方案,;多臺設(shè)備多線程測試,;遠程監(jiān)控;數(shù)據(jù)分析,。
* 軟件架構(gòu):自主研發(fā),,多層級數(shù)據(jù)存儲,;大數(shù)據(jù)系統(tǒng);試驗運行全面控制,;獨立賬號安全可靠,。
* 硬件結(jié)構(gòu):支持互聯(lián)網(wǎng)或局域網(wǎng)部署,GPIB/USB/LAN/RS232/485多種接口庫,。
* 工作原理:ATEBOX與各類設(shè)備快速對接,;ATE-GATEWAY提高數(shù)據(jù)采集的吞吐量,滿足時效性要求,。
通過此次演示,,客戶表示測試功能已能*所需測試需求,并建立了良好的合作關(guān),,目前ATECLOUD智能云測試平臺已經(jīng)成功應(yīng)用于眾多LCR表自動化測試中,。
Namisoft(納米軟件),是一家智能測試及測試大數(shù)據(jù)分析的高科技公司,,幫助客戶解決生產(chǎn)及研發(fā)中智能測試的需求,,專注于儀器自動化測試軟件開發(fā)和智能測試大數(shù)據(jù)分析,通過測試云技術(shù),,邊緣計算和云計算,,實現(xiàn)生產(chǎn)制造企業(yè)測試數(shù)據(jù)采集及智能分析、故障預(yù)測與診斷,、維護決策與優(yōu)化等大數(shù)據(jù)應(yīng)用服務(wù)整體解決方案,,幫助企業(yè)實現(xiàn)智能化改造。多年來為廣大用戶提供了眾多自動化測試軟件,、自動化計量軟件,、智能管理軟件、智能分析軟件,,極大的提高了用戶研發(fā)測試任務(wù)的完成效率,,方便了用戶對測試儀器的使用,受到了廣大測試儀器用戶的一致肯定,。
索取產(chǎn)品資料,,獲取免費試用,請聯(lián)系我們手機號同微信,。