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高度計的結構原理

閱讀:6388      發(fā)布時間:2018-12-12
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 高度計是用來測量物體水平高度,即海拔的工具,。高度的測量被稱為測高,,與測深,即測量水下深度類似,。有測量精度高,、性能穩(wěn)定、重復性好等特點,。高度計可廣泛適用于產(chǎn)品計量,、多點檢測、測量設備監(jiān)測和位置測量等眾多領域,,對長度,、間距、厚度,、高度或直線位移進行準確的測量,。
結構原理/高度計 
儀器包括高精度光柵裝置、密珠導軌的測量桿裝置,、高性能的高速采樣等,。 多型號高度計高度計采用精度光柵作為測量基準,選用玻璃基體的增量式光柵尺,,所以測量支持大測量范圍,,對震動和沖擊不敏感,并具有確定的溫度特性,。
增量光柵尺的掃描方法為光電掃描,,因此無機械接觸也無磨損。電子設備對輸出信號進行細分至納米級的極小測量步距,,從而確保一個信號周期內微小位置誤差,。

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