IC磁鐵hast加速老化試驗(yàn)箱性能：  

1,、測(cè)試環(huán)境條件4,、2、測(cè)試方法環(huán)境溫度為+25℃,、相對(duì)濕度≤85%,、  

2,、溫度范圍105℃→+132℃、(控制點(diǎn))  

3,、溫度波動(dòng)度±0,、5℃、  

4,、溫度偏差±2,、0℃、  

5,、濕度范圍75%～100%R,、H、(控制點(diǎn))  

6,、濕度波動(dòng)度±2,、5%R、H,、  

7,、濕度均勻度±5、0%,、  

8,、壓力范圍0、5～2㎏/㎝2(0,、05～0,、196MPa)(控制點(diǎn))  

9、升溫時(shí)間常溫→+132℃35min,、  

10,、升壓時(shí)間常壓→+2㎏/㎝240min  

hast加速老化試驗(yàn)箱試樣限制本試驗(yàn)設(shè)備禁止：  

易燃、易爆,、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存,。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存,。

IC磁鐵hast加速老化試驗(yàn)箱用途：  

適用于國(guó)防,、汽車部件、電子零配件,、塑膠,、磁鐵行業(yè)、制藥,、線路板,，多層線路板、IC,、LCD,、磁鐵,、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn),，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測(cè)試其制品的耐厭性,，氣密性,。  

《所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)》