江蘇pct加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：  

1,、自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知門禁鎖定控制,門把設(shè)計(jì),箱內(nèi)有大于2,、常壓時測試們會被反壓保護(hù)。  

3,、內(nèi)壓力愈大時,packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命,。  

4、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示,。  

5,、選配訂做：可訂做非標(biāo)尺寸的箱體;可選購編程控制系統(tǒng)。

pct加速老化試驗(yàn)箱針對的試驗(yàn)說明：

用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性,。樣品在高壓下處于凝結(jié)的,、高濕度環(huán)境中，以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),，暴露出封裝中的弱點(diǎn),，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗(yàn)用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料,、設(shè)計(jì)的更新,。應(yīng)該注意，在該試驗(yàn)中會出現(xiàn)一些與實(shí)際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制,。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,，當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時，可能會出現(xiàn)非真實(shí)的失效模式,。  

外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),，會造成離子遷移不正常生長，而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象,。濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕：濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,，將外部的離子污染帶到芯片表面，在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如：護(hù)層針孔,、裂傷,、被覆不良處、,、等,，進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面，造成腐蝕以及漏電流、,、等問題,，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生。

pct加速老化試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：  

1,、IEC60068-2-66  

2,、JESD22-A102-B  

3、EIAJED4701  

4,、EIA/JESD22  

5、GB/T2423,、40-1997  

pct加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)優(yōu)勢：  

1采用全自動補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)不中斷,、  

2.試驗(yàn)過程的溫度、濕度,、壓力,，是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來的,，能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過程,。  

3.干燥設(shè)計(jì)，試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測試區(qū)(待測品)的干燥,，確保穩(wěn)定性,。  

4.壓力/溫度對照顯示，*符合溫濕度壓力對照表要求,。  

江蘇pct加速老化試驗(yàn)箱試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓,、負(fù)荷等)，加快試驗(yàn)過程,，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時間,。半導(dǎo)體的測試:ì主要是測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰Γ郎y品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,，如果半導(dǎo)體封裝的不好,，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中，常見的故裝原因：爆米花效應(yīng),、動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路、,、等相關(guān)問題,。

《所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價,實(shí)際價錢以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準(zhǔn)》