復(fù)疊式pct老化試驗箱產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：  

控制方式：微電腦控制  

內(nèi)箱尺寸：(mm)Φ240×D440  

時間控制：LED顯示器  

加壓時間:0.00Kg～1.04Kgcm2約45分鐘內(nèi)  

壓力范圍：0~2.5Kg/cm²;(內(nèi)桶設(shè)計耐壓3.5Kg/cm2)  

壓力波動：±0.02Kg  

測試條件:溫度121℃,100%R.H飽和蒸氣壓力1.04Kgcm2,  

立式,，終尺寸請以實物為準  

時間范圍:000Hr～999Hr  

pct老化試驗箱滿足標準：  

1,、IEC60068-2-66  

2、JESD22-A102-B  

3,、EIAJED4701  

4,、EIA/JESD22  

5、GB/T2423,、40-1997    

復(fù)疊式pct老化試驗箱針對的試驗說明：

用來評價非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性,。樣品在高壓下處于凝結(jié)的、高濕度環(huán)境中，以使水汽進入封裝體內(nèi),，暴露出封裝中的弱點,，如分層和金屬化層的腐蝕。該試驗用來評價新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料,、設(shè)計的更新,。應(yīng)該注意，在該試驗中會出現(xiàn)一些與實際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機制,。由于吸收的水汽會降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,，當溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時，可能會出現(xiàn)非真實的失效模式,。  

外引腳錫短路：封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),，會造成離子遷移不正常生長，而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象,。濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕：濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,，將外部的離子污染帶到芯片表面，在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如：護層針孔,、裂傷,、被覆不良處、,、等，進入半導(dǎo)體原件里面,，造成腐蝕以及漏電流,、、等問題,，如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生,。

《所發(fā)布的各款試驗設(shè)備價錢僅為象征性的展示,不能作為實際價,實際價錢以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報價單為準》

艾思荔成功案例：  

【鋰電池案例】中國鋁業(yè)鄭州鋰電研究院，建中,，富昌,，比克，金鋼,，精銳,，朗達，新力  

【半導(dǎo)體案例】三環(huán)集團,，NEC,，秀武，永磁集團,，首鋼,，包鋼，烏鋼,，樂凱,，信利半導(dǎo)體,，熒光磁業(yè)，盛元,，昶盛磁業(yè),，金港磁性元件，京湘磁業(yè),，伊瑪,，凱圣新材料，中之,，浙鐵大風,，晶導(dǎo)  

【LED燈具案例】智炫，賽翡藍寶石,，信達,，華燦，瑞豐,，京華百年,，航天光比特，利達,，新光臺,，藍箭，博萊特,，英特來,，世紀陽光，興恒隆,，建光達,，歐利普，瑞煌,，能一郎,，源力  

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【電子電器】九州,，晨朗,，東菱，信佳,，極飛,，立鉅，升利,，藍箭,，永天，創(chuàng)維,，泰坦,，駿升，德賽,，科密,，日新，飛科,，中安  

【線路板案例】儒競艾默生,，雙贏，智恩,，至卓飛高,，建滔，卡爾馬斯特,，聯(lián)基  

【通訊設(shè)備案例】海能達，易飛揚,，偉易達,，樂通，東洋油墨,，龍騰飛,，佛達，易飛楊  

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