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懷柔hast老化試驗(yàn)箱價(jià)錢

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 品牌 ASLI/艾思荔
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 東莞市
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更新時(shí)間:2019-11-22 15:53:16瀏覽次數(shù):428

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
懷柔hast老化試驗(yàn)箱價(jià)錢滿足標(biāo)準(zhǔn):
1、IEC60068-2-66
2,、JESD22-A102-B
3,、EIAJED4701
4、EIA/JESD22
5,、GB/T2423,、40-1997

詳細(xì)介紹

懷柔hast老化試驗(yàn)箱價(jià)錢產(chǎn)品特點(diǎn):  

1、自動(dòng)門禁,圓型門自動(dòng)溫度與壓力檢知門禁鎖定控制,門把設(shè)計(jì),箱內(nèi)有大于2,、常壓時(shí)測試們會(huì)被反壓保護(hù),。  

3、內(nèi)壓力愈大時(shí),packing,箱門會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長packing壽命,。  

4,、臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示。  

5,、選配訂做:可訂做非標(biāo)尺寸的箱體;可選購編程控制系統(tǒng),。

所發(fā)布的各款試驗(yàn)設(shè)備價(jià)錢僅為象征性的展示,不能作為實(shí)際價(jià),實(shí)際價(jià)錢以艾思荔業(yè)務(wù)員根據(jù)客戶的要求所做的報(bào)價(jià)單為準(zhǔn)

<strong>懷柔hast老化試驗(yàn)箱價(jià)錢</strong>

懷柔hast老化試驗(yàn)箱針對的試驗(yàn)說明:

用來評(píng)價(jià)非氣密封裝器件在水汽凝結(jié)或飽和水汽環(huán)境下抵御水汽的完整性。樣品在高壓下處于凝結(jié)的,、高濕度環(huán)境中,,以使水汽進(jìn)入封裝體內(nèi),暴露出封裝中的弱點(diǎn),,如分層和金屬化層的腐蝕,。該試驗(yàn)用來評(píng)價(jià)新的封裝結(jié)構(gòu)或封裝體中材料、設(shè)計(jì)的更新,。應(yīng)該注意,,在該試驗(yàn)中會(huì)出現(xiàn)一些與實(shí)際應(yīng)用情況不符的內(nèi)部或外部失效機(jī)制。由于吸收的水汽會(huì)降低大多數(shù)聚合物材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,,當(dāng)溫度高于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度時(shí),,可能會(huì)出現(xiàn)非真實(shí)的失效模式。  

外引腳錫短路:封裝體外引腳因濕氣引起之電離效應(yīng),會(huì)造成離子遷移不正常生長,,而導(dǎo)致引腳之間發(fā)生短路現(xiàn)象,。濕氣造成封裝體內(nèi)部腐蝕:濕氣經(jīng)過封裝過程所造成的裂傷,將外部的離子污染帶到芯片表面,,在經(jīng)過經(jīng)過表面的缺陷如:護(hù)層針 孔,、裂傷、被覆不良處,、,、等,進(jìn)入半導(dǎo)體原件里面,,造成腐蝕以及漏電流,、、等問題,,如果有施加偏壓的話故障更容易發(fā)生,。

<strong>懷柔hast老化試驗(yàn)箱價(jià)錢</strong>

懷柔hast老化試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn):  

1、IEC60068-2-66  

2,、JESD22-A102-B  

3,、EIAJED4701  

4、EIA/JESD22  

5,、GB/T2423,、40-1997  

懷柔hast老化試驗(yàn)箱技術(shù)優(yōu)勢:  

1采用全自動(dòng)補(bǔ)充水位之功能,試驗(yàn)不中斷、  

2.試驗(yàn)過程的溫度,、濕度,、壓力,是真 正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來的,,能夠真 正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過程。  

3.干燥設(shè)計(jì),,試驗(yàn)終止采用電熱干燥設(shè)計(jì)確保測試區(qū)(待測品)的干燥,,確保穩(wěn)定性。  

4.壓力/溫度對照顯示,,*符合溫濕度壓力對照表要求,。  

 

懷柔hast老化試驗(yàn)箱價(jià)錢試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷等),,加快試驗(yàn)過程,,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。半導(dǎo)體的測試:ì主要是測試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?,待測品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試,,如果半導(dǎo)體封裝的不好,,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應(yīng),、動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?、封裝體引腳間因污染造成之短路、,、等相關(guān)問題,。

<strong>懷柔hast老化試驗(yàn)箱價(jià)錢</strong>

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