高低溫應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型,，造型美觀大方,，并采用無(wú)反作用把手，操作簡(jiǎn)便,。外箱采用SUS304＃霧面線(xiàn)條處理不銹鋼板,，內(nèi)箱采用進(jìn)口不銹鋼SUS＃304鏡面鋼板。外形設(shè)計(jì)美觀,，各零部件安裝位置合理,，靜電噴涂顏色能滿(mǎn)足客戶(hù)實(shí)驗(yàn)室整體配套要求。

試驗(yàn)箱規(guī)格：

內(nèi)尺寸：50×60×55㎝(W*D*H)

內(nèi)容積：165L

外尺寸：115×158×184㎝(W*D*H)

溫度范圍：-70℃～+150℃(氣冷式)

濕度范圍：10%～98%RH

降溫速率：20℃～-70℃/85min(空載下)

升溫速率：20℃～+150℃/45min(空載下)

發(fā)熱負(fù)載：250W.(40℃,90%RH)

溫度穩(wěn)定度：±0.2℃

濕度穩(wěn)定度：±2%

試驗(yàn)箱滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：

1,、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法,；

2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法,；

3,、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N,；

7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn),；

8,、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；

9,、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn),。

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式

11,、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式

12,、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

11,、GB/T2423.22-2002溫度變化

12,、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則

13、EIA364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）

高低溫應(yīng)力篩選試驗(yàn)箱應(yīng)用范圍：又名高低溫濕熱試驗(yàn)室,、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱,、兩箱移動(dòng)高低溫試驗(yàn)箱，用于電子電器零組件,、自動(dòng)化零部件通訊組件,、汽車(chē)配件、金屬,、化學(xué)材料,、塑膠等行業(yè),，國(guó)防工業(yè),、航天、兵工業(yè),、BGA,、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高,、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

    為了仿真不同電子構(gòu)件,，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境,，縮短測(cè)試時(shí)間,，降低測(cè)試費(fèi)用，但是須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響,，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn),。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊),。