艾思荔大型 hast飽和老化測試箱可測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度,、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如：溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓,、負(fù)荷等),，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,。

hast飽和老化測試箱技術(shù)優(yōu)勢：

1,、采用全自動補充水位之功能,試驗不中斷、

2,、試驗過程的溫度,、濕度、壓力,，是讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的,，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽

壓表計算出來的，能夠掌握實際的試驗過程,。

3,、干燥設(shè)計，試驗終止采用電熱干燥設(shè)計確保測試區(qū)(待測品)的干燥,，確保穩(wěn)定性,。

4,、準(zhǔn)確的壓力/溫度對照顯示,，*符合溫濕度壓力對照表要求,。

性能：

1、測試環(huán)境條件4,、2,、測試方法環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%,、

2,、溫度范圍105℃→+132℃、(控制點)

3,、溫度波動度±0,、5℃、

4,、溫度偏差±2,、0℃、

5,、濕度范圍75%～100%R,、H、(控制點)

6,、濕度波動度±2,、5%R、H,、

7,、濕度均勻度±5、0%,、

8,、壓力范圍0、5～2㎏/㎝2(0,、05～0,、196MPa)(控制點)

9、升溫時間常溫→+132℃35min,、

10,、升壓時間常壓→+2㎏/㎝240min

試樣限制本試驗設(shè)備禁止：

    易燃、易爆,、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存,。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存,。

hast飽和老化測試箱用途：

    適用于國防,、航天、汽車部件,、電子零配件,、塑膠,、磁鐵行業(yè)、制藥,、線路板,，多層線路板、IC,、LCD,、磁鐵、燈飾,、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測,，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié),。測試其制品的耐厭性,，氣密性。更多艾思荔檢測儀器相關(guān)詳情請艾思荔