方塊電阻測試儀使各種電子薄膜能得到準確,、無損的方塊電阻測量結(jié)果

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北京恒奧德儀器儀表有限公司
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電阻率/方塊電阻測試儀型號：HAD-DB1

本HAD-DB1方阻測試新產(chǎn)品為薄膜測試提供機械,、電氣兩方面的保護，在寬廣的量程范圍內(nèi),，使各種電子薄膜能得到準確,、無損的方塊電阻測量結(jié)果。

由于新型薄膜材料種類繁多,，研制過程中樣品性能變化較大,，而且各種薄膜的機械強度，允許承受的電壓,、電均不相同,，因此HAD-DB1型測試儀可為用戶量身定制各種定探針壓力及曲率半徑的探針頭，儀器的測試電分7檔,，可由0.4μA增加到zui大為1000mA,，測試電壓可由8V增加到80V，測試電壓和測試電均可連續(xù)調(diào)節(jié),，給薄膜,、涂層的研制者提供了個摸索*測試條件的寬闊空間。

由于儀器設(shè)有恒源開關(guān),，并且所有電檔在探針與樣品接觸后均有電延時接通的能,，充分保護了樣品表面不會因為探針接觸時產(chǎn)生的電火花而受到損壞。

HAD-DB1儀器性能

方阻測量范圍：1×10-5～2×106Ω/□,，zui小分辨率1×10-5Ω/□,；

電阻率測量范圍：1×10-6～2×105Ω·cm或1×10-8～2×103Ω·m，zui小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m,；

探針壓力：25g～250g,；

探針曲率半徑：25μm～450μm

（注：探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制）；

測試電分7檔：1μA,、10μA,、100μA、1mA,、10 mA,、100 mA、1000 mA,；

測試電壓：（1μA～10 mA檔）12～80V連續(xù)可調(diào)

（100mA檔） 8～36V連續(xù)可調(diào)

（1000mA檔） 8～15V連續(xù)可調(diào),；

測量方式：手動或自動（配置用測試軟件）,；

測量對象：導(dǎo)電薄膜,、半導(dǎo)體薄膜、電力電容器鋁箔,、各種金屬箔,、銀漿涂層,、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜；各種半導(dǎo)體材料的電阻率,。

方塊電阻測試儀使各種電子薄膜能得到準確,、無損的方塊電阻測量結(jié)果

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