兩探針電阻率測試儀(測鍺錠)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)及美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測方法“兩探針法”設(shè)計(jì),。它適合于測量模截面尺寸是可測量的,，而且棒的長度大于橫截面線度的有規(guī)則的長棒，例如橫斷面為圓形,、正方形,、長方形或梯形的單晶或多晶錠。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進(jìn)出,，遠(yuǎn)離電壓測量探針,，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng),、少子注入效應(yīng)等）,，對(duì)測量的影響較小，因此兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法,。特別是對(duì)多晶材料的測量,，由于多晶晶粒間界處,，雜質(zhì)局部偏析可能導(dǎo)致電阻率較大變化,，這種影響對(duì)四探針法更為嚴(yán)重，故不推薦用四探針法測量多晶材料的電阻率,。
本儀器除適合測量體形有規(guī)則的單晶棒外,，也適合測量多晶棒,。兩探針法測量水平區(qū)熔多晶鍺電阻率，在我國已有四十多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),，對(duì)區(qū)熔鍺錠橫截面面積的變化已總結(jié)出一套計(jì)算方法,，本儀器采用李賀成教授提出的計(jì)算公式編寫程序，可用微機(jī)HQ-710C處理區(qū)熔鍺錠的測量數(shù)據(jù),，或采用KDY測量系統(tǒng)軟件測量數(shù)據(jù),，并根據(jù)北京有色金屬研究總院余懷之教授的提議，擴(kuò)大了微處理機(jī)的數(shù)據(jù)處理范圍,。
      本儀器主要由電氣測量部份（簡稱：主機(jī)）,、測試臺(tái)及兩探針頭組成。儀器的特點(diǎn)是主機(jī)配置雙數(shù)字表,，在測量電阻率的同時(shí),，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉(zhuǎn)換,，更及時(shí)掌控測量電流,。主機(jī)還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定,。本機(jī)配有恒流源開關(guān),，在測量某些材料時(shí)，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護(hù)被測材料,。儀器配置了本公司的專li產(chǎn)品：“小游移探針頭”,，間距為10mm的兩探針頭探針游移率在0.02～0.05%。保證了儀器測量電阻率的重復(fù)性和準(zhǔn)確度,。本機(jī)需配用HQ-710C數(shù)據(jù)處理器或KDY測量系統(tǒng)軟件,，置入必須的數(shù)據(jù)后，處理器會(huì)配合探頭在鍺錠上移動(dòng)測量,，自動(dòng)計(jì)算、打印出各點(diǎn)的電阻率,、電阻率的最大值,、電阻率最小值，給測量帶來很大方便,。
SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀主機(jī)技術(shù)參數(shù)
（1）測量范圍：
 可測電阻率：鍺晶體0.1-100Ω·cm
 可測鍺錠尺寸：最大長度700mm,；最大高度50mm；最大寬度60mm,。
（2）恒流源：
 輸出電流：DC 0.004-100mA  五檔連續(xù)可調(diào)
 量程：0.004-0.01mA   
          0.04-0.10mA
          0.4-1.0mA 
          4.0-10mA
          40-100mA
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.05%
（3）直流數(shù)字電壓表：
 測量范圍：0-199.99mV
 靈敏度：10μA
 基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
 輸入阻抗：≥1000MΩ
（4）電阻測量誤差：≤0.3%
（5）兩探針頭：KDT-5
 探針間距：10.00±0.02mm  
 游移率：0.02-0.05%          
 探針壓力：4±1N/單針
（6）供電電源：
 AC   220V   ±10%   50/60Hz   功率：12W
（7）使用環(huán)境：
 溫度：23±2℃   相對(duì)溫度：≤65%
 無較強(qiáng)的電場干擾,，無強(qiáng)光直接照射。
（8）重量,、體積：
 主機(jī)重量：7.5Kg
 體積：390×340×190（單位：mm  長度×寬度×高度）

兩探針電阻率測試儀(測細(xì)硅芯)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測方法“兩探針法”設(shè)計(jì),。配套測試架適合于測量硅芯電阻率。兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法,。

整套儀器有如下特點(diǎn)

1,、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示電壓的同時(shí)，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測全過程中的電流變化,，使操作更方便,，測量更精確。

數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ  基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)

2,、可測電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm,。

3、測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供,，不受氣候條件的影響,。電流量程分五檔：10μA、100μA,、1mA,、10mA、100mA,。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA

4,、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次）,，在絕緣電阻,、電流容量方面留有更大的安全系數(shù),，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。

5,、可加配電腦,，安裝KDY測量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集,、自動(dòng)換向測量,、求平均值，計(jì)算,、存儲(chǔ)并打印電阻率最大值,、最小值、最大百分變化率,、平均百分變化率等內(nèi)容,。

兩探針電阻率測試儀(測檢磷檢硼棒)

SZ-KDY-2型兩探針電阻率測試儀（以下簡稱兩探針儀）是按照我國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-1995及美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)（ASTM）推薦的材料驗(yàn)收檢測方法“兩探針法”設(shè)計(jì)。它適合于測量橫截面面積均勻的圓型,，方型或矩形單晶錠(如硅芯,、檢磷、硼棒,、區(qū)熔鍺錠等)的電阻率,，測樣長度與截面最大尺寸之比應(yīng)不小于3：1。由于兩探針法的測量電流是從長棒兩端進(jìn)出,，遠(yuǎn)離電壓測量探針,，因此電流流過金屬與半導(dǎo)體接觸處產(chǎn)生的許多副效應(yīng)（如珀?duì)柼?yīng)、塞貝克效應(yīng),、少子注入效應(yīng)等）,，對(duì)測量的影響較小，測量結(jié)果為橫截面的平均電阻率,，兩探針法的測量精度一般優(yōu)于四探針法,。

整套儀器有如下特點(diǎn):

1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示電壓的同時(shí),，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時(shí)監(jiān)測全過程中的電流變化,，使操作更方便，測量更精確,。

數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)

2,、可測電阻率范圍：0.001—10000Ω·cm。

3,、測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供,，不受氣候條件的影響。電流量程分五檔：10μA、100μA,、1mA,、10mA、100mA,。調(diào)節(jié)范圍從0.001~100mA

4,、儀器采用觸點(diǎn)電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次）,，在絕緣電阻,、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命,。

5,、可加配電腦，安裝KDY測量系統(tǒng),，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、自動(dòng)換向測量,、求平均值,，計(jì)算、存儲(chǔ)并打印電阻率最大值,、最小值,、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容,。