芯片推力測試儀?采用電腦控制,，實時顯示推,、拉力，可記錄推,、拉力值以及推,、拉力平均值，并由試驗機軟件導(dǎo)出實驗數(shù)據(jù),。

芯片推力測試儀采用單立柱主體結(jié)構(gòu),，廣泛適用于金屬合金、非金屬材料試樣的拉伸,、壓縮,、彎曲、剪切,、剝離,、撕裂等試驗,，以及一些產(chǎn)品的特殊試驗?？煽啃愿?，并且容易操作，同時滿足GB,、ISO,、JIS、ASTM,、DIN等多種標(biāo)準(zhǔn)要求,，并可根據(jù)用戶需求編輯試驗軟件，定制試驗附具,，是各類產(chǎn)品和材料制造商,、高等院校、科研單位和各級產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督部門*的精密儀器,。

芯片推力測試儀技術(shù)參數(shù)：

1. 產(chǎn)品規(guī)格：MX-0230

2． 等級：   0.5級

3． 負(fù)荷：   2000N

4． 有效測力范圍：0.1/100-99.9899%;

5． 試驗力分辨率,，負(fù)荷±500000碼；內(nèi)外不分檔,，且全程分辨率不變,。

6． 有效試驗寬度：120mm

7． 有效試驗空間：300mm

8． 試驗速度:：0.001~500mm/min(任意調(diào))

9. 速度精度：示值的±0.5以內(nèi)；

10．位移測量精度：示值的±0.5以內(nèi),；

11．變形測量精度：示值的±0.5以內(nèi),；

12．應(yīng)力控速率范圍： 0.005～6FS/S

13．應(yīng)力控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±1%以內(nèi),；速率≥0.05％FS/S時,，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi)；

14．應(yīng)變控速率范圍： 0.002%～6％FS/S

15．應(yīng)變控速率精度： 速率＜0.05％FS/S時,，為設(shè)定值的±2%以內(nèi),；速率≥0.05％FS/S時，為設(shè)定值的±0.5%以內(nèi),；

16. 恒力/位移/變形測量范圍：0.5％～99.999％FS

17．恒力/位移/變形測量精度：設(shè)定值＜10％FS時, 為設(shè)定值的±1%以內(nèi),； 設(shè)定值≥10％FS時, 為設(shè)定值的±0.1%以內(nèi)；

18．試臺升降裝置：快/慢兩種速度控制,，可點動,；

19．試臺安全裝置：電子限位保護

20．試臺返回：手動可以速度返回試驗初始位置，自動可在試驗結(jié)束后自動返回,；

21．試驗定時間自動停車,試驗定變形自動停車,試驗定負(fù)荷自動停車

22．超載保護：超過負(fù)荷10時自動保護,；

23. 自動診斷功能，定時對測量系統(tǒng)、驅(qū)動系統(tǒng)進行過載,、過壓,、過流、超負(fù)荷等檢查,，出現(xiàn)異常情況立即進行保護

23．電源功率： 400W

24．主機重量： 40kg

25. 電源電壓:  220V（單相）