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激光粒度儀降本增效的新希望,，線陣CCD探測器替代傳統(tǒng)探測器
傳統(tǒng)激光粒度儀采用環(huán)形光電二極管陣列作為探測器，但一般探測器只有 32 環(huán),，較低的空間分辨率限制了其在顆粒測量中的應(yīng)用,。并且由于應(yīng)用量少，導(dǎo)致其成本非常高,。
CCD興起于20世紀(jì)70年代,，是由一組規(guī)則排列的金屬-氧化物-半導(dǎo)體（ MOS）電容器陣列和輸入、輸出電路組成,。它能夠利用時鐘脈沖電壓來產(chǎn)生和控制半導(dǎo)體勢阱的變化,，完成對光的探測。不同于普通固態(tài)電子器件,，CCD器件中信息的存在和表達(dá)方式為電荷,，而不是電流或電壓，因此對信息的表達(dá)具有更高的靈敏度,。按照感光單元的排列方式來劃分,，CCD器件可以分為線陣CCD和面陣CCD。
近些年來,，以面陣 CCD 為探測器的激光粒度儀得到了一定的發(fā)展,，但在室溫條件下，面陣 CCD 容易受到暗電流的影響,，動態(tài)范圍一般只有 20——30dB,且面陣CCD 存在價格高,，尺寸小,，采集電路設(shè)計復(fù)雜等缺陷。相比于面陣 CCD 探測器,，線陣 CCD 具有分辨率高,，動態(tài)響應(yīng)范圍寬等特點，并且可以對像素點進(jìn)行直接操作,，具有更大的靈活性,，因此能夠滿足不同環(huán)境條件下的顆粒粒度測量要求。目前,，在不同工業(yè)領(lǐng)域,，線陣 CCD 已經(jīng)得到廣泛應(yīng)用，如高性能文件打印,、光譜掃描,、光學(xué)字符識別等。由于應(yīng)用范圍廣,，使得線陣 CCD 成本較低。所以采用線陣 CCD 探測器替代傳統(tǒng)探測器可以有效降低激光粒度儀的制造成本,。
隨著工業(yè)生產(chǎn)實踐的不斷進(jìn)步,，針對小粒徑顆粒、不規(guī)則形狀顆粒和特殊材料顆粒的研究越來越深入,?；诰€陣 CCD 探測器的激光粒度儀測量性能需要從顆粒的散射光學(xué)模型、儀器的光學(xué)結(jié)構(gòu)和采集數(shù)據(jù)的反演算法三個方面來進(jìn)一步提高,。
不管是 Mie 氏光散射理論還是夫瑯禾費衍射理論,，其前提條件都是假設(shè)被測樣品為球形顆粒。而在實際社會生產(chǎn)過程中,，顆粒的形狀往往是不規(guī)則的,，采用傳統(tǒng)光散射理論描述顆粒的散射光強(qiáng)分布是不合適宜的，容易造成反演粒度分布偏離真實粒度分布,。因此,，建立更普適性的顆粒散射光學(xué)模型是提高激光粒度測量準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。使用近似非負(fù)約束 Chin-Shifrin 算法是一種獲得準(zhǔn)確性更高的顆粒粒度分布的方法,。
目前,，激光粒度儀的光學(xué)結(jié)構(gòu)主要有前置式傅里葉透鏡光學(xué)結(jié)構(gòu)和后置式傅里葉透鏡光學(xué)結(jié)構(gòu)兩種，目前,，依然采用前置式傅里葉透鏡光學(xué)結(jié)構(gòu)的激光粒度儀制造商有丹東百特,、遼寧儀表研究所、成都精新以及國外的 Shimadzu,、Sympatec 等公司,。并且由于干法測量要求的特殊性,，一般干法激光粒度儀也采用前置式傅里葉透鏡光學(xué)結(jié)構(gòu)。因此,，本文主要對前置式傅里葉透鏡光學(xué)結(jié)構(gòu)進(jìn)行探討,。線陣 CCD 具有 7450 個像素點，單位像素點的尺寸為 4.7×4.7μm,，采用精度為8bit,，采樣數(shù)據(jù)率為 30MHz?；诰€陣 CCD 的前置式傅里葉光學(xué)結(jié)構(gòu)的激光粒度儀系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如下圖所示,。
北京恒瑞鑫達(dá)科技有限公司，成立于2009年8月,，成立至今已經(jīng)和國內(nèi)多家教育機(jī)構(gòu),，全國各地多家企業(yè)有過長期的合作關(guān)系，專注于新型材料試驗機(jī)的研究,，長期聘請清華大學(xué)精密儀器系的專家為技術(shù)顧問,，并成立新型材料檢測儀器研發(fā)中心。
北京恒瑞鑫達(dá)科技有限公司是集專業(yè)設(shè)計,、開發(fā),、生產(chǎn)與銷售于一體的*股份制企業(yè)，專注于新型材料試驗機(jī)的研制,、材料檢測技術(shù)的提高及材料試驗方法的創(chuàng)新,，是國內(nèi)的材料試驗檢測儀器的生產(chǎn)企業(yè)。恒瑞鑫達(dá)以精美的產(chǎn)品,、的技術(shù),、精良的品質(zhì)、精心的服務(wù)贏得了廣大用戶和*,，產(chǎn)品全國,，擁有一大批國內(nèi)外科研院所及企業(yè)用戶，是國內(nèi)試驗機(jī)行業(yè)發(fā)展速度快的企業(yè)之一,。
為了提高顆粒測量粒度范圍,，擴(kuò)大線陣 CCD 的可測量散射角，建議采用漸變?yōu)V光片系統(tǒng)對中心艾里斑光強(qiáng)進(jìn)行濾光處理,，獲取顆粒小角度散射光強(qiáng)信息,，同時為了擴(kuò)大有效測量散射角，設(shè)計組合線陣 CCD 探測器,，對大角度散射光進(jìn)行有效采集,。另外，為了滿足不同社會生產(chǎn)需求,，例如在線顆粒測量,、超細(xì)顆粒粒度測量等,。引入更的數(shù)據(jù)反演算法也迫在眉睫。