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CH維克托MIKRO TEST 涂層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2020-01-20 11:54:00瀏覽次數(shù):519

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),地礦,交通    
CH維克托MIKRO TEST 涂層測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體(如鋼,、鐵,、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻,、銅,、琺瑯、橡膠,、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅,、鋁、鋅,、錫等)上非導(dǎo)電覆層的厚度(如:琺瑯,、橡膠、油漆,、塑料等),。
涂鍍層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高,、穩(wěn)定性好,、操作簡(jiǎn)便等特點(diǎn),是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量*的檢測(cè)儀器,,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè),、金屬加工業(yè)、化工業(yè),、

詳細(xì)介紹

CH維克托MIKRO TEST 涂層測(cè)厚儀CH維克托MIKRO TEST 涂層測(cè)厚儀

 

選型方法

編輯

用戶可以根據(jù)測(cè)量的需要選用不同的測(cè)厚儀,,磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀一般測(cè)量的厚度適用0-5毫米,這類儀器又分探頭與主機(jī)一體型,,探頭與主機(jī)分離型,,前者操作便捷,后者適用于測(cè)非平面的外形,。更厚的致密材質(zhì)材料要用超聲波測(cè)厚儀來(lái)測(cè),,測(cè)量的厚度可以達(dá)到0.7-250毫米,。電解法測(cè)厚儀適合測(cè)量很細(xì)的線上面電鍍的金,銀等金屬的厚度,。

兩用型

一體兩用型

一體兩用型(4張)

儀器由德國(guó)生產(chǎn),,集合了磁性測(cè)厚儀和渦流測(cè)厚儀兩種儀器的功能,可用于測(cè)量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度,。如:

* 鋼鐵上的銅,、鉻、鋅等電鍍層或油漆,、涂料,、搪瓷等涂層厚度。

* 鋁,、鎂材料上陽(yáng)極氧化膜的厚度,。

* 銅、鋁,、鎂,、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。

* 鋁,、銅,、金等箔帶材及紙張、塑料膜的厚度,。

* 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度,。

儀器符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn),、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn),。

分體兩用型

分體兩用型(4張)

儀器特點(diǎn)

采用雙功能內(nèi)置式探頭,自動(dòng)識(shí)別鐵基或非鐵基體材料,,并選擇相應(yīng)的測(cè)量方式進(jìn)行精確測(cè)量,。

符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在任何測(cè)量位置讀取測(cè)量數(shù)據(jù),。

采用手機(jī)菜單式功能選擇方式,,操作十分簡(jiǎn)便。

可設(shè)定上下限值,,測(cè)量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí),,儀器會(huì)發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。

穩(wěn)定性*,,通常不必校正便可長(zhǎng)期使用,。

技術(shù)規(guī)格

量 程: 0~2000μm ,

電 源: 兩節(jié)5號(hào)電池

標(biāo)準(zhǔn)配置

常規(guī)型

對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層,如涂層,、鍍層,、敷層、貼層,、化學(xué)生成膜等,,在有關(guān)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)中稱為覆層(coating)。

覆層厚度測(cè)量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要一環(huán),,是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的*手段。為使產(chǎn)品化,,我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中,,對(duì)覆層厚度有了明確的要求。

覆層厚度的測(cè)量方法主要有:楔切法,,光截法,,電解法,厚度差測(cè)量法,,稱重法,X射線熒光法,,β射線反向散射法,,電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等,。這些方法中前五種是有損檢測(cè),,測(cè)量手段繁瑣,速度慢,,多適用于抽樣檢驗(yàn),。

X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,但裝置復(fù)雜昂貴,,測(cè)量范圍較小,。因有放射源,使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范,。X射線法可測(cè)極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量,。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。

隨著技術(shù)的日益進(jìn)步,,特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后,,采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能,、高精度,、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米,,精度可達(dá)到1%,,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,,量程寬,、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉,是工業(yè)和科研使用泛的測(cè)厚儀器,。

采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材,,檢測(cè)速度快,能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行,。

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