鍍層測厚儀的原理和優(yōu)點
閱讀:2173 發(fā)布時間:2017-12-14
鍍層厚度測量已成為加工工業(yè),、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié),,是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化,,我國出口商品和涉外項目中,,對鍍層厚度有了明確要求。鍍層測厚儀采用磁性測厚方法,,可無損傷檢測磁性金屬基體(如:鐵,、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如:鋅,、鋁,、鉻、銅,、橡膠,、油漆等)。儀器廣泛地應用于制造業(yè),、金屬加工業(yè),、化工業(yè)、商檢等檢測領域,。是材料保護專業(yè)*的儀器。 鍍層測厚儀的工作原理: 鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來,。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,,所以不會對樣品造成損壞,。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成,。測量的對象包括涂層,、鍍層、敷層,、貼層,、化學生成膜等(在有關國家和標準中稱為覆層(coating))。 鍍層測厚儀的優(yōu)點介紹: 1. 測量速度快2. 精度高精度,,可達到1-2%3. 穩(wěn)定性高4. 功能,、數(shù)據(jù),、操作、顯示全部是中文測量方法5,、覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,,光截法,電解法,,厚度差測量法,,稱重法,X射線熒光法,,β射線反向散射法,,電容法、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測,,測量手段繁瑣,速度慢,,多適用于抽樣檢驗,。6、X射線和β射線法是無接觸無損測量,,但裝置復雜昂貴,,測量范圍較小。因有放射源,,使用者必須遵守射線防護規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層,、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用,。