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貨物所在地:北京北京市
更新時(shí)間:2025-01-22 21:00:25
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SS-180A太陽光模擬器搭載測試儀表及測試夾具等設(shè)備可以用來測試光伏器件(包括各種太陽電池)的電性能,,如Pmax,lmax,,Vmax等以及I-V曲線等,。
SS-180A技術(shù)參數(shù):
有效光譜面積:180mm*180mm
光譜不匹配性:<±25%,C1assA
輻照不穩(wěn)定性:小于±2%C1assA
輻照不均勻性:小于±2%Class A
輻照強(qiáng)度:1.0sun
準(zhǔn)直角:優(yōu)于±4度
功率可調(diào)范圍:±30%
測量距離:35-40cm
快門控制時(shí)間:0.1s-9990hours
支持定制:AM0或其他濾片
光譜不匹配性(Spectral Coincidence)對于IV測試的影響: 我們知道太陽光模擬器要達(dá)到AM1.5G的標(biāo)準(zhǔn)光譜,幾乎是不可能的,;但是盡可能的接近標(biāo)準(zhǔn)光譜,,可使得我們的測試結(jié)果更加接近真實(shí)環(huán)境;B級光源在不同波段不匹配性在60~140%,,與A75%~125%相 比,,相差甚大,,這也必將導(dǎo)致單一波長下的短路電流出現(xiàn)很大不確定性和偏差!從而產(chǎn)生累積效應(yīng)將 影響整體測試數(shù)據(jù),;
輻照不穩(wěn)定度(Temporal Instability of Irradiance)對于IV測試的影響: 日本JIS C8912 標(biāo)準(zhǔn)在國際三大標(biāo)準(zhǔn)中是比較嚴(yán)格的,,要求輻照不穩(wěn)定度要小于1% (IEC 60904-9.ASTM E927-05.兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)要求小于2%);
有效照射面積內(nèi)不同點(diǎn)的輻照均勻性(Uniformity of Irradiance)對于IV測試的影響: 峰值功率,、短路電流隨著光斑內(nèi)輻照強(qiáng)度不均勻性增加,,而顯著降低; 從而也導(dǎo)致其他相關(guān)參數(shù)測試數(shù)據(jù)(如轉(zhuǎn)換效率,、填充因子)出現(xiàn)大的偏差?。?!
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