海德漢式光柵尺

海德漢式光柵尺

品質

自從1930開始,，約翰內斯.海德漢博士闡明了關于客戶服務的三點原則，高的質量和持續(xù)的改 
進作為我們公司成功先決條件,。直到今天，這三條原則仍是我們工作的基礎,。對于高的質量的 
追求并不僅僅指終的成品,，也包括我們公司內部的任何行動。海德漢的高質量是依據ISO 9001 
認證的,。

環(huán)境

但品質不是全部,。海德漢公司還制定了環(huán)境保護標準。一方面通過產品設計保證*使用和可被 
循環(huán)使用,，另一方面節(jié)省資源和能源,，這些都是ISO 14001環(huán)境保護標準的基本要求。EMAS認證 
也確認了海德漢公司在產品的*經濟性,，生態(tài)性和社會性的產品開發(fā)方面的不懈努力,。

海德漢式光柵尺

從一開始，HEIDENHAIN就將其首要目標定為生產技術上始終*的產品,，這個目標也自始至終貫串于海德漢的整個發(fā)展史中,。Wilhelm Heidenhain先生，這個來自柏林的技術工程師,，對精密機械產生了興趣 ,，并成為瑞士一家*的科學儀器和精密刻度制造廠的一個熟練工程師。
1889年,，Wilhelm HEIDENHAIN先生在柏林建立了一個金屬刻蝕公司,，并從制造裝飾模版開始，后來又制作商業(yè)牌匾,，以及刻度盤表面和刻度尺的分度,。由于在制造工藝上不斷創(chuàng)新，W.HEIDENHAIN先生的公司逐漸成為歐洲大和*的金屬刻蝕公司,。
1923年,，Wilhelm先生的兒子，Dr.JohannesHeidenhain博士,，進入其父親的公司工作,。他為了彌補自己化學知識的不足，在Lise Meitner 和 Otto Hahn所屬的一間直線刻度器工廠接受訓練,。
1928年,，由于Dr.Johannes Heidenhain博士擁有無硫冶金復制工藝上，所以他意識到能夠從傳統(tǒng)的刻度分劃中快速準確的產生直線刻度,。這也使得一系列的利用光學機械原理加工的刻度劃分產品成為可能,。
1936年,，這一年公司生產出一個直線準確度為±15mm的一米直線刻度尺，這在當時是一項令人震驚的成果,。
1943年,，為Jena的Carl Zeiss 公司生產的±3弧秒的圓形刻度盤 。 柏林的工廠在二戰(zhàn)中被毀壞,。
1948年,，Dr.Johannes Heidenhain重新開始了他的事業(yè)，他在Traunreut建立了一間僅有7個工人的DR.JOHANNES HEIDENHAIN公司,。這個年輕的公司的目標之一就是尋找一種更好的制版工藝,。
1950年HEIDENHAIN公司取得了DIADUR工藝:在玻璃基板上覆蓋一層抗光材料，并用蒸氣沉淀工藝鍍上一層鉻金屬層,。由于這項*的成果的出現,，他們能夠在一系列產品的復制加工過程中生產一極薄但很硬的能抵抗化學腐蝕的刻度。這是制造寬刻度尺的前提條件,，這種寬刻度尺可能刻上成千上百的四位數,，可以用在零售商店顯示價格，后來也用于在機床中的光學位置測量儀器,。
1952年,，開始生產光學位置測量儀器一首先是橫向的讀出，然后又配以直接數字顯示,，其刻度為小可到0.001mm的直線刻度或1弧秒的角度分度,。
1961年，開始開發(fā)光電掃描直線光柵尺和角度編碼器:在光電掃描過程中,，刻度上的結構和掃描中間掩模都是用來調整光束的強度,，并將其轉換為電平信號。
1968年,，一種雙向計數器和一種簡易的步距控制器的出現開始了HEIDENHIAN向"電子時代"的進軍,。接下來他們又為兩軸或三軸的機床設計了數字顯示器，還有用來測量和檢驗用的HEIDENHAIN-METRO長度計,。
1976年,，HEIDENHAIN公司開始為機床制作數字控制器，初的產品是直線切削控制器,。
1981年,，生產出用于銑床、鉆床,、鏜床以及加工中心的輪廓控制器,。
1987年，提出了一種新的干涉測量原理,，利用此原理小測量步距可達到1毫微米,，同時允許較大的安裝公差,。
1993年，即使是對于復雜的機械,，也實現了其毫不動搖的承諾-對話式編程,，從而使TNC控制器成為歐洲的工廠現場編程的標準。在用于直線和角度編碼器的掃描方法這個領域內,，公司不斷地發(fā)展也增大了公司產品的應用范圍,。
1997年，出現了*個完整的程序,，能夠為直線、角度和旋轉編碼器提供了能通過快速連續(xù)的接口傳輸位置信號的功能,。
1999年,，在這個領域內大約有300萬臺旋轉和角度編碼器，250萬臺直線光柵尺,，36萬臺數字顯示器和13萬臺TNC控制器,。
2001年，HEIDENHAIN公司在Traunreut的主要工廠就有超過2200名工人,，另外還有450名職員在所有的重要工業(yè)國家和*的服務點提供技術支持,。

332433-05

810800-24 ECN 113-2048

533631-03 PWM 20/IK 215 

533631-03 PWM 20/IK 215 

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557679-11 LC 183 ML 1140mm

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 LS476  720毫米 + -5um

 LS477 ML720 + -5um

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海德漢式光柵尺

光柵技術里程碑 

1936
 
用照相制版生產玻璃光柵尺，精度± 0.015 mm
 
1943
 
用制版技術生產圓光柵,，精度± 3秒
 
1952
 
重量秤成為主要收入來源 
 
1967
 
自持光柵,，顯微結構 
 
1985
 
增量式直線光柵尺的距離編碼參考點 
 
1986
 
相位光柵 
 
1995
 
二維編碼器格柵 
 
2002
 
干涉掃描直線光柵尺的平面相位光柵 
 
2005
 
抗污染的幅值光柵，激光燒蝕法生產
 
2009
 
大型二維格柵（400 mm x 400 mm）,，用于半導體工業(yè)的測量系統(tǒng)
 
編碼器里程碑： 敞開式直線光柵尺 
1952
 
機床的光學直線光柵尺 
 
1961
 
LID 1增量式直線光柵尺,，柵距8 μm / 測量步距2 μm 
 
1963
 
LIC式直線光柵尺，18條刻軌,，純二進制編碼 / 測量步距5 μm
 
1965
 
激光干涉儀,，用于機床校準

1987
 
LIP 101敞開式干涉掃描直線光柵尺，測量步距0.02 μm
 
1989
 
LIP 301敞開式干涉掃描直線光柵尺,，測量步距1 nm
 
1992 PP 109R二維干涉掃描直線光柵尺 

2008
 
LIP 200干涉掃描直線光柵尺,，信號周期0.512 μm，高運動速度3 m/s
 
2010
 
LIC 4000式敞開直線光柵尺,，2條刻軌,，偽隨機碼，EnDat 2.2,，大測量長度27 m和分辨率 
1 nm
 
2012
 LIC 2100式單條刻軌直線光柵尺  
2015 LIP 6000緊湊型干涉掃描直線光柵尺 

編碼器里程碑： 封閉式直線光柵尺 

1952
 
機床的光學直線光柵尺 
 

1966
 
LIDA 55.6全封閉增量式鋼帶直線光柵尺
 

1975
 
LS 500玻璃光柵的增量式直線光柵尺,，大測量長度3 m，測量步距10 μm 
 

1977
 
LIDA 300增量式直線光柵尺,，大測量長度30 m 
 

1994
 
LC 181全封閉式直線光柵尺,，7條刻軌,，EnDat接口，測量長度3 m,，測量步距0.1 μm
 

1996
 
LC 481式直線光柵尺,，2條刻軌， PRC,，EnDat,，大測量長度2 m
 

2011
 
LC 200式直線光柵尺，大測量長度28 m,，PRC,，測量步距10 nm
 
2014 LC xx5式直線光柵尺，大測量長度4 m,，測量步距1 nm 
2015 LP 100增量式直線光柵尺,，大測量長度3 m，測量步距31.25 pm 

海德漢式光柵尺

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海德漢式光柵尺

655153-06

315418-04 LB 382C ML1040mm

680983-03

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393000-14 AE ERM 280

1131753-17 ROQ425

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232715-03 MT 25P 02S09 04 

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651871-01 AK LIC 401 

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