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貨物所在地：上海上海市
所在地： 國(guó)外
更新時(shí)間：2024-04-16 16:50:03
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原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x
原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x用于測(cè)量薄膜厚度和 n&k（光學(xué)常數(shù)）的實(shí)時(shí)光學(xué)測(cè)量?jī)x,。該系統(tǒng)可以在高環(huán)境光下工作,，因?yàn)樗褂瞄T控?cái)?shù)據(jù)采集，使用高強(qiáng)度閃光氙燈在寬帶 ( UV-NIR) 波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量,。MProbe 50 系統(tǒng)是*可定制的,，以支持不同的真空室幾何形狀。根據(jù)可用的光學(xué)端口,，可以使用斜入射或垂直入射,。光可以聚焦在樣品表面或準(zhǔn)直。反射探頭可以放置在沉積室光學(xué)端口的外部或內(nèi)部（使用光纖饋通）,。MProbe 50 系統(tǒng)沒有活動(dòng)部件,。典型測(cè)量時(shí)間~10ms?？梢钥焖倏煽康販y(cè)量任何半透明薄膜,。
優(yōu)勢(shì)：
1.原位薄膜厚度和 n&k 測(cè)量
2.用于高環(huán)境光環(huán)境下測(cè)量的門控?cái)?shù)據(jù)采集
3.材料：500+ 擴(kuò)展材料數(shù)據(jù)庫(kù)
4.連續(xù)、快速和可靠的測(cè)量
5.靈活的配置——*定制以匹配沉積室的幾何形狀
選型列表：
MProbe50 | 波長(zhǎng)范圍 | 厚度范圍 |
VIS | 400nm -1100nm | 15nm – 20 μm |
HRVIS | 700nm-1000nm | 1μm-400μm |
NIR | 900nm-1700nm | 100nm – 200μm |
UVVisF | 200nm -900nm | 1nm – 20μm |
UVVISNIR | 200nm-1700nm | 1nm -200μm |
XT | 1590nm -1650nm | 10μm-1mm |
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