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更新時間：2025-01-02 09:48:35
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SID4-UV 紫外波前傳感器(波前分析儀)
【SID4-UV波前分析儀簡介】
隨著光波波前探測技術的發(fā)展，各種波前傳感器應運而生,。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據(jù)幾何光學原理,，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有Shack－Hartmann 波前傳感器,，曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等,；另一類是基于干涉測量原理，探測波前不同部分的干涉性,，來獲取波前信息,，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標準鏡;它們結構簡單,，抗干擾能力強,，條紋穩(wěn)定。SID4-UV波前分析儀是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統(tǒng)干涉儀的方法,。SID4-UV波前分析儀作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器,，SID4-UV波前分析儀非常適合于紫外光學測量，包括用于光刻或半導體應用紫外激光表征，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測,。
【關于Phasics】
Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司,。Phasics公司憑借其在測量方面的專業(yè)經(jīng)驗與*的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器。
一,、 SID4-UV 紫外波前傳感器(波前分析儀)主要特點
250 x 250超高相位取樣分辨率
2 nm RMS高相位靈敏度
紫外波段波前測量的通用解決方案
非準直光入射
消色差
二,、SID4-UV波前傳感器/波前分析儀產(chǎn)品應用
波前像差測量
基于四波剪切技術，Phasics 的波前傳感器同時提供具有高分辨率的相位和強度測量,。 波前傳感器與其光束分析軟件相結合,，可提供完整的激光診斷：波前像差、強度分布,、激光光束質量參數(shù)（M2,、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析儀可以放置在光學裝置的任何一點,，無論光束是準直的還是發(fā)散的,。作為低可至波長250 nm的高分辨率波前傳感器，SID4-UV非常適合于紫外光學測量,，包括用于光刻或半導體應用紫外激光表征,，以及透鏡和晶圓的表面面型檢測。
MTF測量
SID4系列波前傳感器可以配合用戶自行搭建的光路系統(tǒng)進行像質評價,，只需一次直接拍攝,，就可以通過軟件后處理測量參數(shù)(PSF, MTF, Zernike系數(shù))。如果不能自行搭建光路系統(tǒng),，也可以進一步了解Kaleo Kit 套裝等產(chǎn)品測量MTF等產(chǎn)品,。
三、SID4-UV波前傳感器/波前分析儀應用領域
紫外光學測量| 光刻或半導體應用紫外激光表征| 透鏡和晶圓的表面面型檢測| 自適應光學| 等離子體密度
四,、SID4-UV波前分析有/波前傳感器主要規(guī)格
波長范圍 | 250-400nm |
| 靶面尺寸 | 7.4 x 7.4 mm2 |
| 空間分辨率 | 29.6 µm |
| 取樣分辨率 | 250 x 250 |
| 相位分辨率 | 2 nm RMS |
| 絕對精度 | 10 nm RMS |
| 采集速率 | 30 fps |
| 實時處理速度 | > 2 fps (全分辨率下) |
五,、與夏克-哈特曼波前傳感器對比
六、更多參數(shù)選型
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