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更新時(shí)間：2025-03-18 16:42:40
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在線詢價(jià)收藏產(chǎn)品( 聯(lián)系我們,，請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息，謝謝?。?/p>
半導(dǎo)體/薄膜無損檢測儀產(chǎn)品特點(diǎn)
系統(tǒng)使用獲得的光聲技術(shù)設(shè)計(jì)無損測量系統(tǒng),。源自 CNRS 和波爾多大學(xué)的技術(shù)轉(zhuǎn)讓,，它依靠激光、材料和聲波之間的相互作用實(shí)驗(yàn)超精密材料物性,，薄膜厚度檢測
系統(tǒng)使用無接觸,，無損光學(xué)測量。運(yùn)用激光產(chǎn)生100GHz以上超高頻段超聲波,，以此檢測獲得材料諸如厚度，附著力,，界面熱阻,，熱導(dǎo)率等。
半導(dǎo)體/薄膜無損檢測儀產(chǎn)品尤其適測量從幾納米到幾微米的薄層,，無論是不透明的（金屬,、金屬氧化物和陶瓷），還是半透明和透明的,。 這種全光學(xué)無損檢測技術(shù)（without contact, no damage, no water, no Xray）不受樣品形狀的影響,。
產(chǎn)品適用精度可以達(dá) 1nm to 30 microns , Z軸分辨率為亞納米,，于此同時(shí)，系統(tǒng)提供附著力,、熱性能（納米結(jié)構(gòu)界面熱阻）測量分析
半導(dǎo)體行業(yè)
半導(dǎo)體行業(yè)為我們周圍遇到的大多數(shù)電子設(shè)備提供了基本組件,。它的制造需要在硅晶片上進(jìn)行多次薄膜沉積，,。
工業(yè)過程中,，厚度測量和界面表征都是確保質(zhì)量的關(guān)鍵。尤其是半導(dǎo)體行業(yè)中多層/單層不透明薄膜沉積
對于以上問題,，我們針對提供：
-高速控制檢測
-無損無接觸測量
-單層/多層測量
顯示行業(yè)
今天,，不同的技術(shù)競爭主導(dǎo)顯示器的生產(chǎn)，而顯示器在我們的日常使用中無處不在,。事實(shí)上,，由于未來 UHD-8K 標(biāo)準(zhǔn)以及新興柔性顯示器的制造工藝，這不斷擴(kuò)大的行業(yè)存在技術(shù)限制
單個(gè)像素仍然是一堆薄層有機(jī)墨水,、銀,、ITO……在這方面，控制薄層厚度的問題仍然存在,。這些問題可能會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)質(zhì)量缺陷,。
對此我們可提供：
- 對此類層級樣品的*檢查。
- 提取厚度的可能性,。
- 非破壞性和非接觸式厚度測量,。
無論是在航空工業(yè)還是醫(yī)療器械制造領(lǐng)域，技術(shù)涂層都可用于增強(qiáng)高附加值部件中的某些功能,。這些涂層的厚度隨后成為確保目標(biāo)性能的關(guān)鍵因素,。
接觸式破壞測量對于此領(lǐng)域會(huì)帶來特定問題，且受限于待測樣品形狀因素,、曲率等原因,，很難控制樣品特性
對此我們可以提供：
不改變樣品形貌無損檢測（Form factor postage）
快速厚度測量
在線測量控制
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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