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貨物所在地:上海上海市
更新時(shí)間:2025-02-06 16:17:57
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Nanobase50萬(wàn)RMB,!高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)采用透射式光路設(shè)計(jì),,提高了產(chǎn)品的靈敏度和穩(wěn)定性。*的振鏡掃描技術(shù)能夠在臺(tái)面固定不動(dòng)的情況下實(shí)現(xiàn)快速二維成像掃描。該技術(shù)在聯(lián)用光電流成像系統(tǒng)載臺(tái)時(shí)優(yōu)勢(shì)明顯,,并且可擴(kuò)展增加熒光壽命檢測(cè)系統(tǒng),。
XperRam C series是基礎(chǔ)款,采用一個(gè)532nm激光器激發(fā),,集成了奧林巴斯顯微鏡,,可以測(cè)量樣品的Raman/PL的光譜信號(hào)和mapping(Image)圖像。光譜信號(hào)強(qiáng),,掃描速度快,,。
50萬(wàn)RMB,!高速大面積共聚焦拉曼成像系統(tǒng)
系統(tǒng)光路
拉曼成像mapping
(a) MoS2 sample microscope image (b)50x50µm size 0.3µm step Intensity image
(c) 30x30µm size 0.1µm step Intensity image (d)30x30µm size 0.1µm step Frequency image
產(chǎn)品特點(diǎn)
(激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復(fù)性< 0.1 μm)
應(yīng)用領(lǐng)域
石墨烯,,二維材料,生物樣本,,半導(dǎo)體工業(yè),,碳納米管,碳材料,,太陽(yáng)能電池,,儲(chǔ)能材料,納米纖維分布,,探測(cè)器光電性能檢測(cè),,晶圓體分析,制藥分析,,納米材料檢測(cè),,生物細(xì)胞成像,微塑料檢測(cè),,金剛石微粉檢測(cè),。
基本參數(shù)
激光器 |
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顯微鏡 |
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掃描模塊 |
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探測(cè)器 |
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光譜范圍 |
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光柵選擇 |
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其它附加選項(xiàng) |
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使用Nanobase XperRam Compact系列拉曼成像光譜儀發(fā)表的部分文獻(xiàn):
1. Ising-Type Magnetic Ordering in Atomically Thin FePS3gnetic Ordering in Atomically Thin FePS3
影響因子: 12.08 期刊名稱(chēng): NANO Letters(2016) , 作者單位: 首爾國(guó)立大學(xué)物理與天文學(xué)系,, 通訊作者: Hyeonsik Cheong
2. Electrically conductive cement mortar: Incorporating rice husk-derived high-surface-area graphene
期刊名稱(chēng): Construction and Building Materials(2016) ,, 作者單位: 全南國(guó)立大學(xué)高分子科學(xué)與工程學(xué)院, 通訊作者: Ji Hoon Kim
3. Wafer-Scale van der Waals Heterostructures with Ultraclean Interfaces via the Aid of Viscoelastic Polymer
影響因子: 8.097 期刊名稱(chēng): ACS Applied Materials and Interfaces(2018) ,, 作者單位: 成均館大學(xué),, 通訊作者: Young Hee Lee
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